[發明專利]一種CIC多相內插濾波超聲相控陣波束延時方法有效
| 申請號: | 201610107254.2 | 申請日: | 2016-02-26 |
| 公開(公告)號: | CN105759255B | 公開(公告)日: | 2019-02-19 |
| 發明(設計)人: | 劉桂雄;唐文明 | 申請(專利權)人: | 華南理工大學 |
| 主分類號: | G01S7/52 | 分類號: | G01S7/52 |
| 代理公司: | 北京天奇智新知識產權代理有限公司 11340 | 代理人: | 王澤云 |
| 地址: | 510640 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 cic 多相 內插 濾波 超聲 相控陣 波束 延時 方法 | ||
1.一種CIC多相內插濾波超聲相控陣波束延時方法,其特征在于,所述方法包括:
A通過聚焦法則激勵多陣元探頭,對反射波進行接收延時聚焦;
B回波升采樣,采樣率從fs提升到I·fs,同時I路分解,形成相鄰兩路1/(I·fs)的延時精度;
C通過N階CIC濾波器實現多相內插濾波;
所述步驟B具體實現方法如下:
回波信號的采樣率為fs,兩個樣點間采樣時間ΔTs=1/fs,可通過內插技術,進行I倍內插采樣率提升到I·fs,則兩個樣點間采樣時間ΔTs=1/(I·fs),其精度提高I倍,其回波信號延時聚焦精度為1/(I·fs),
(1)I倍內插器,兩個原始采樣點之間插入I-1個零值,即實現I倍內插,速率提升到I·fs;
(2)抗鏡像濾波,插零后會使得原始信號的頻譜發生變化,若原始序列以及頻譜分別為x(n)、X(ejw),則內插后的時域序列與頻域譜分別為:
則內插后信號頻譜為原始序列頻譜經I倍壓縮后得到,內插后的頻譜產生周期為π/I鏡像分量,可通過帶寬為π/I、長度L低通濾波器hLP(n)(HLP(ω))恢復出原始信號;
上述步驟C是通過N階CIC濾波器多項內插通項公式實現多項內插濾波;實現步驟如下:
N階CIC濾波器的數學表達式為:
從式(2)可以看出,N階CIC濾波器可等效等效為N個積分器、梳狀濾波器的組合;
其參數說明如下:①N-CIC濾波器的階數;②I-抽取或內插系數;③M-梳狀濾波部分的延時因子,一般取1;
N階CIC濾波器由N個梳狀濾波器和積分器組成,存在的特殊反饋結構,使其結構不能簡單地進行多相分解,實現多相內插濾波,具體包括:對回波信號插零升采樣后,通過CIC濾波器實現抗鏡像濾波濾除高頻成分,對信號I倍內插零再濾波,重組CIC濾波器內插器、積分器,在采樣率fs下完成內插濾波運算,通過多相分解技術實現對內插后I·fs速率信號的處理,即在采樣率fs下多相輸出I相,此濾波器即CIC多相內插濾波器;
積分器中的每個寄存器zi等效為一個累加器,對這個內插濾波器輸入采樣率為fs的數字序列,分析輸出結果;內插I倍即每兩個樣點間插I-1個零,工作在I·fs速率的積分器,實際是每I個1/I·fs采樣周期輸入一個有效樣點,其余時刻輸入是零,不需要進行運算,如是可合并內插器、積分器,在采樣率fs下完成內插濾波運算,即在采樣率fs下通過多相輸出,可實現任意倍內插濾波;
每個節點加法器賦上坐標p(x,y),設積分部分對應寄存器值分別為z0、z1、…、zN,可得Y(i)其中i=0、1、…、I-1,必定為變量z0、z1、…、zN的一次多項式,令Y(i)=A0z0+A1z1+A2z2+…+ANzN,下面求解系數Ai;設p(i,j)為此時刻坐標(i,j)節點對應的值,根據各節點的值有如下的遞推關系式:
如果不考慮中間值p(i-1,j-1)和p(i,j-1),可直接用tm時刻節點值p(0,0)=z0、p(0,1)=z1、p(0,2)=z2、…、p(0,N)=zN表示p(x,y);
給定時刻節點(i,0)作為起點,求到節點(x,y)的路徑,關系到求兩節點間最短路徑數問題,m×n矩形網格,右上角點到左下角點最短路徑數為Cmm+n,則坐標(i,0)到(x,y)的最短路徑數Ai可表示:
由于寄存器zi值為p(i,0),如是經坐標(i,0)到達(x,y)后的值p(x,y)i=Aizi,從而節點值p(x,y)=A0z0+A1z1+A2z2+…+ANzN表示如下:
其中其中:δ=0,表示輸出項p(x,y)中不含z0;
令x=N為CIC濾波器階數,可得最后的多相分解輸出相:
令y=I可得下一個時鐘周期寄存器zx的值,其中,I為內插倍數,該值為反饋環路增益值:
式(6)、(7)稱為CIC濾波器多相內插濾波求解公式。
2.如權利要求1所述的CIC多相內插濾波超聲相控陣波束延時方法,其特征在于,所述步驟A具體包括:通過一定的聚焦法則激勵多陣元探頭,對反射波進行接收延時聚焦,使能量聚合,以獲得靈活可控的合成波束及聚焦點位置的隨意控制,通過粗延時、細延時各延時時間,實現聲束任意偏轉對工件各方位掃描。
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