[發明專利]一種離散元仿真中多球顆粒的兩層網格搜索接觸檢測方法有效
| 申請號: | 201610105766.5 | 申請日: | 2016-02-25 |
| 公開(公告)號: | CN105787998B | 公開(公告)日: | 2018-11-13 |
| 發明(設計)人: | 胡國明;方自強;李婉婉;桂文杰;劉勇 | 申請(專利權)人: | 武漢大學 |
| 主分類號: | G06T17/10 | 分類號: | G06T17/10 |
| 代理公司: | 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 魯力 |
| 地址: | 430072 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 離散 仿真 中多球 顆粒 網格 搜索 接觸 檢測 方法 | ||
1.一種離散元仿真中多球顆粒的兩層網格搜索接觸檢測方法,其特征在于,基于以下定義:
多球顆粒由單元球組成,用于表達和模擬各種非球形顆粒的幾何形狀,其中,單元球是組成多球顆粒的最小單元,單元球相互重疊,并且它們的尺寸被改變;組成多球顆粒的單元球的數量、尺寸及其組合形式,決定了所表達的多球顆粒的幾何形狀精度;
具體包括以下步驟:
步驟1,每個多球顆粒各自由一個包絡球來表示;多球顆粒i的包絡球的幾何中心Pi的全局坐標xiG、yiG和ziG采用如下公式計算:
其中和是多球顆粒i的單元球u的球心的全局坐標,是單元球u的體積,ns是多球顆粒i中單元球的數量;多球顆粒i的包絡球的半徑Ri采用如下公式計算:
其中是多球顆粒i的包絡球與單元球u之間的中心距,是單元球u的半徑;
全局空間被劃分為尺寸均為D的方形或立方體網格,并供第一層網格搜索所用,其中D是最大包絡球的直徑;每個包絡球被投影至全局空間的網格中;
步驟2,在第一層網格搜索中,通過網格搜索來查找目標顆粒的包絡球i周圍的所有鄰居包絡球MM(i),這些鄰居包絡球中的候選顆粒被挑選出來;如果目標顆粒的包絡球i與某個候選顆粒的包絡球j相交,則該候選顆粒的第一層網格搜索完成,進入步驟3;反之,則進行目標顆粒的包絡球i與其余候選顆粒的包絡球之間的相交檢測;
步驟3,當目標顆粒的包絡球i與候選顆粒的包絡球j相交時,一個尺寸為D+d的方形或立方體局部空間被劃分為尺寸均為d的方形或立方體網格,并供第二層網格搜索所用,其中d是最大單元球的直徑;目標顆粒i與候選顆粒j的單元球被投影至局部空間的網格中;
步驟4,在第二層網格搜索中,通過網格搜索來查找目標單元球u周圍的所有鄰居單元球nn(u),這些鄰居單元球為目標單元球u的候選單元球;如果目標單元球u與某個鄰居單元球v接觸,則計算多球顆粒的接觸力;反之則進行目標單元球u與其余候選單元球之間的接觸檢測;
步驟5,重復步驟4直至遍歷目標單元球u周圍的所有候選單元球nn(u)和所有ns個目標單元球;
步驟6,重復步驟2到步驟5直至遍歷目標顆粒包絡球i周圍的所有候選包絡球MM(i)和所有M個目標包絡球。
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