[發(fā)明專利]用于測(cè)量和控制帶電粒子筆形射束的多分辨率檢測(cè)器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610105709.7 | 申請(qǐng)日： | 2016-02-25 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN105920744B | 公開（公告）日： | 2019-11-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | R·P·布瓦索;A·達(dá)特;J·戈登;K·奧塔 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 皮瑞米德技術(shù)咨詢公司 |
| 主分類號(hào)： | A61N5/10 | 分類號(hào)： | A61N5/10 |
| 代理公司： | 11269 北京嘉和天工知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人： | 嚴(yán)慎<國際申請(qǐng)>=<國際公布>=<進(jìn)入國 |
| 地址： | 美國馬*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 測(cè)量 控制 帶電 粒子 筆形 分辨率 檢測(cè)器 | ||
【說明書】：
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