[發明專利]一種移動終端的可調電阻式測試裝置

在審

• 申請號: 201610100820.7
• 申請日: 2016-02-24
• 公開（公告）號: CN107121576A
• 公開（公告）日: 2017-09-01
• 發明（設計）人: 張生蘭
• 申請（專利權）人: 張生蘭
• 主分類號: G01R1/30
• 分類號: G01R1/30
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種移動終端測試的電阻，特別涉及一種移動終端的可調電阻式測試裝置。

背景技術

目前在手機和手機附件測試時，經常會用到不同的電阻值。比如在進行充電器測試時，會使用一些特殊阻值的電阻，而且這些測試對這種電阻的功率和精度都有一定的要求。

為了測試，需要專門做一些不同的測試夾具以適應不同電阻值的要求，在測試過程中需要不斷地更換電阻的阻值，從而導致需經常更換測試夾具，這樣影響了測試時間，并且很可能影響測試精度。

因而現有技術還有待改進和提高。

發明內容

鑒于上述現有技術的不足之處，本發明的目的在于提供一種移動終端的可調電阻式測試裝置，能根據需要調節測試裝置的阻值。

為了達到上述目的，本發明采取了以下技術方案：

一種移動終端的可調電阻式測試裝置，包括測試接口、運算放大器、三極管、第一電阻、0歐電阻和電容；運算放大器的正向輸入端與可調電阻的第一端連接，運算放大器的反向輸入端通過第一電阻連接測試接口的第一端，運算放大器的輸出端連接三極管的基極；三極管的集電極與測試接口的第二端連接，三極管的發射集通過第一電阻連接測試接口的第一端、還通過電容接地；可調電阻的第二端通過0歐電阻連接三極管的集電極和測試接口的第二端，可調電阻的第三端連接測試接口的第一端；測試接口的第三端連接電源，測試接口的第四端接地。

所述的移動終端的可調電阻式測試裝置，其中，所述運算放大器的增益大于60db。

所述的移動終端的可調電阻式測試裝置，其中，所述運算放大器采用電壓串聯負反饋模式。

所述的移動終端的可調電阻式測試裝置，其中，三極管為NPN三極管。

本發明提供的移動終端的可調電阻式測試裝置，是利用測試接口、可調電阻、運算放大器、三極管、第一電阻、0歐電阻和電容搭建而成的有源電路，所述運算放大器的正向輸入端與所述可調電阻的第一端連接，運算放大器的反向輸入端通過所述第一電阻連接所述測試接口的第一端，運算放大器的輸出端連接所述三極管的基極；所述三極管的集電極與所述測試接口的第二端連接，三極管的發射集通過所述第一電阻連接測試接口的第一端、還通過電容接地；所述可調電阻的第二端通過0歐電阻連接三極管的集電極和測試接口的第二端，可調電阻的第三端連接測試接口的第一端；所述測試接口的第三端連接電源，測試接口的第四端接地。在電阻阻值不變的情況下，通過調節可調電阻的阻值，改變測試裝置的實際電阻值，從而滿足不同附件的測試阻值的要求，實現方式非常簡單，而且測試裝置的電路結構簡單，成本低。

附圖說明

圖1是本發明可調電阻式測試裝置的電路示意圖。

具體實施方式

本發明提供一種移動終端的可調電阻式測試裝置，是利用測試接口、可調電阻、運算放大器、三極管、第一電阻、0歐電阻和電容搭建而成的有源電路，該可調電阻式測試裝置所體現的電氣特性為電阻。

也就是說，可以將該可調電阻式測試裝置當做一個電阻使用，并且該可調電阻式測試裝置的輸出電阻只需通過修改電路中的可調電阻的參數就可以達到修改測試裝置的電阻值的目的。本發明移動終端的可調電阻式測試裝置可以使用在各種需要不同電阻的場合，而且調節方式非常簡單。

為使本發明的目的、技術方案及效果更加清楚、明確，以下參照附圖并舉實例對本發明進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。

請參閱圖1，本發明可調電阻式測試裝置包括一殼體（圖中未示出），在所述殼體內設置有測試接口J1、可調電阻RV1、運算放大器A1、三極管Q1、第一電阻R3、0歐電阻R01和電容C1。

其中，可調電阻RV1包括三個接線端，分別為第一端a、第二端b和第三端c，并且可調電阻RV1的阻值可以選大一些，譬如，100千歐姆，可調電阻RV1在電路中輸入的阻值可以根據需要調節。

本實施例中，假定可調電阻的第三端c在可調電阻的某一個中間狀態時，其上部的電阻為R1，下部的電阻為R2。

所述運算放大器A1為差分輸入，單端輸出的運放，其正向輸入端與所述可調電阻RV1的第一端a連接，運算放大器A1的反向輸入端通過所述第一電阻R1連接所述測試接口J1的第一端，運算放大器A1的輸出端連接所述三極管Q1的基極。