[發明專利]光學膜的不良檢測裝置及方法有效
| 申請號： | 201610098872.5 | 申請日： | 2016-02-23 |
| 公開（公告）號： | CN105911062B | 公開（公告）日： | 2020-02-04 |
| 發明（設計）人： | 金種佑;樸真用 | 申請（專利權）人： | 東友精細化工有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 11410 北京市中倫律師事務所 | 代理人： | 石寶忠 |
| 地址： | 韓國全*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光學 不良 檢測 裝置 方法 | ||
【說明書】：
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