[發(fā)明專利]一種可承受高電磁輻射場的電壓測試裝置、系統(tǒng)及應(yīng)用

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610094076.4
• 申請日: 2016-02-19
• 公開（公告）號: CN105675961A
• 公開（公告）日: 2016-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李楠;李軍
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州市誠臻電子科技有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R15/24
• 代理公司: 廣州市南鋒專利事務(wù)所有限公司 44228
• 代理人: 劉媖

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及EMC兼容性測試領(lǐng)域，具體涉及一種可承受高電磁輻射場的電壓測試裝置、系統(tǒng)及其應(yīng)用。

背景技術(shù)

任何電子電氣設(shè)備在正常工作時都會對周圍空間產(chǎn)生一定量的電磁波輻射騷擾，這些輻射騷擾主要是通過設(shè)備本身的外殼及與設(shè)備相連的電源線和各種信號、控制線向空間輻射形成的。在微波暗室，特別是需要對電路電壓等監(jiān)控場合，現(xiàn)有的電壓測試設(shè)備易給測試環(huán)境造成輻射干擾，且電壓測試設(shè)備本身也容易受到強電磁干擾。為了真實反映測試結(jié)果，必須首先解決電壓測試設(shè)備對測試環(huán)境的影響，保證測試有效可靠。

因此，有必要提供一種電壓測試裝置，適用于有較強電磁干擾環(huán)境和對電磁輻射敏感的場合。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了一種可承受高電磁輻射場的電壓測試裝置、系統(tǒng)及其應(yīng)用。

第一方面，本發(fā)明提供了一種可承受高電磁輻射場的電壓測試裝置，包括光電轉(zhuǎn)換電路、光探頭及光檢測電路，其中，所述光電轉(zhuǎn)換電路包括被測電路、及與被測電路并聯(lián)或串聯(lián)的光源模塊；所述光檢測電路包括感光模塊、分壓模塊、電源模塊、開關(guān)模塊和測試模塊，其中，感光模塊、分壓模塊、電源模塊和開關(guān)模塊依次串聯(lián)構(gòu)成回路；所述測試模塊并聯(lián)在所述分壓模塊的兩端；所述光檢測電路的感光模塊通過光纖與光探頭連接。

進一步地，所述光探頭用于采集光源模塊發(fā)出的光。

進一步地，所述光源模塊為LED燈、白熾燈、熒光燈、節(jié)能燈中的任一種。

更進一步地，所述光源模塊為LED燈。

在本發(fā)明一實施方式中，所述的光電轉(zhuǎn)換電路還包括與所述光源模塊串聯(lián)的開關(guān)模塊，用于控制所述光電轉(zhuǎn)換電路的通斷。

進一步地，在該實施方式中，所述開關(guān)模塊為開關(guān)SW1。

在本發(fā)明一實施方式中，所述光探頭包括非金屬安裝殼、容置在所述非金屬安裝殼內(nèi)的聚焦透鏡、設(shè)置在所述非金屬安裝殼一端的安裝孔、以及設(shè)置在所述非金屬安裝殼另一端的進光孔。

進一步地，所述光纖的一端裝設(shè)在所述非金屬安裝殼一端的安裝孔中，另一端通過光纖連接器與光檢測電路的感光模塊相連。

更進一步地，所述光纖連接器為ST光纖連接器。

更進一步地，所述光纖一端的端面設(shè)置在聚焦透鏡的焦點上。可選地，所述聚焦透鏡包括但不限于曲面透鏡、柱面透鏡、平面透鏡、圓頂透鏡中的一種或多種。使用時，聚焦透鏡可擴大接收光線的范圍并聚合光功率直射光纖端面。

進一步地，所述非金屬安裝殼為圓筒狀。

可以理解的是，光纖的長度可以設(shè)計足夠長，從而有效隔離光檢測電路和被測光源，以減少被測光源區(qū)域與光檢測電路相互之間的電磁干擾。

在本發(fā)明一實施方式中，所述感光模塊為光敏二極管、光敏電阻中的一種，優(yōu)選為光敏電阻。所述感光模塊在有光照射時，電阻改變，測試電路的電流隨之發(fā)生變化，導(dǎo)致感光模塊兩端的電壓發(fā)生變化。

在本發(fā)明一實施方式中，所述分壓模塊為分壓電阻。可用于分壓和限流，可防止電路因感光模塊的阻值變化引起電路中的電流過大而毀壞。

在本發(fā)明一實施方式中，所述電源模塊為直流電源，所述直流電源為化學(xué)電池或生物電池。可用于提供電能，供測試電路工作。

在本發(fā)明一實施方式中，所述測試模塊用于測試分壓模塊兩端的電壓變化，包括數(shù)據(jù)記錄儀、示波器或萬用表。

在本發(fā)明一實施方式中，所述光檢測電路中，所述感光模塊為光敏電阻R1；所述分壓模塊為分壓電阻R2；所述電源模塊為12V的直流電源；所述開關(guān)模塊為開關(guān)SW2；所述測試模塊包括數(shù)據(jù)記錄儀、示波器或萬用表。

進一步地，在該實施方式中，所述分壓電阻R2的阻值為0-10千歐。

第二方面，本發(fā)明提供了一種可承受高電磁輻射場的電壓測試系統(tǒng)，包括本發(fā)明第一方面所述的可承受高電磁輻射場的電壓測試裝置，還包括數(shù)據(jù)采集卡、與所述的數(shù)據(jù)采集卡連接的上位機；所述數(shù)據(jù)采集卡用于采集來自檢測模塊的電信號，并將電信號傳輸給上位機；所述上位機用于接收來自數(shù)據(jù)采集卡的電信號，并對所述的電信號進行分析、處理，并輸出結(jié)果。

進一步地，所述數(shù)據(jù)采集卡與上位機有線/無線連接，所述有線連接可為USB總線、以太網(wǎng)中的任一種；所述無線連接可為Zigbee、GPRS、3G中的任一種。

更進一步地，所述數(shù)據(jù)采集卡與上位機通過USB總線連接。

第三方面，如本發(fā)明第一方面所述的可承受高電磁輻射場的電壓測試裝置或如本發(fā)明第二方面所述的可承受高電磁輻射場的電壓測試系統(tǒng)在電磁兼容測試中的應(yīng)用。