[發(fā)明專(zhuān)利]一種限束器在Z軸上的射線跟蹤方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610090289.X | 申請(qǐng)日: | 2016-02-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105769231B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李國(guó)旺;劉宇飛;周宇;田季豐 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 賽諾威盛科技(北京)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | A61B6/03 | 分類(lèi)號(hào): | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司: | 北京北新智誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11100 | 代理人: | 趙郁軍 |
| 地址: | 100176 北京市大興區(qū)北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 限束器 射線 跟蹤 方法 | ||
1.一種限束器在Z軸上的射線跟蹤方法,其特征在于:所述射線跟蹤的步驟包括:
A、限束器讀取多層CT機(jī)的每個(gè)view的所有參考通道的探測(cè)器數(shù)據(jù);
B、將所述探測(cè)器數(shù)據(jù)沿Z軸方向平均分成A組探測(cè)器數(shù)據(jù)和B組探測(cè)器數(shù)據(jù);
C、分別計(jì)算出所述A組探測(cè)器數(shù)據(jù)的平均值和所述B組探測(cè)器數(shù)據(jù)的平均值;
D、根據(jù)所述A組探測(cè)器數(shù)據(jù)的平均值計(jì)算出A組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差,根據(jù)所述B組探測(cè)器數(shù)據(jù)的平均值計(jì)算出B組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差;
E、把所述A組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差和所述B組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差歸一化,得到標(biāo)準(zhǔn)方差歸一化值;
F、根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)方差歸一化值計(jì)算出限束器開(kāi)口在Z軸上的微調(diào)距離;將所述A組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差與所述B組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差進(jìn)行比較,確定限束器開(kāi)口在Z軸上的移動(dòng)方向;
G、限束器按照所述移動(dòng)方向控制兩個(gè)鎢片在Z軸上同步移動(dòng)所述微調(diào)距離,完成限束器在Z軸上的射線跟蹤;
所述微調(diào)距離=兩組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差歸一化值與限束器開(kāi)口的乘積。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射線跟蹤方法,其特征在于:所述A組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差大于所述B組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差,限束器開(kāi)口在Z軸上向B組探測(cè)器所在的方向移動(dòng);所述A組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差小于所述B組探測(cè)器數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)方差,限束器開(kāi)口在Z軸上向A組探測(cè)器所在的方向移動(dòng)。
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