[發(fā)明專利]非熱插拔光收發(fā)一體模塊的測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610089041.1
• 申請日: 2016-02-17
• 公開（公告）號: CN105743569A
• 公開（公告）日: 2016-07-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 譚曉云
• 申請（專利權(quán)）人: 柳州市乾陽機電設(shè)備有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073
• 代理公司: 柳州市集智專利商標(biāo)事務(wù)所 45102
• 代理人: 黃有斯;鄧丹丹

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種光通信測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種非熱插拔光收發(fā)一體模塊的測試裝置。

背景技術(shù)

光收發(fā)一體模塊的增加導(dǎo)致了品種的多樣性，非熱插拔光收發(fā)一體模塊就是其中的一種光纖通信模塊，包括主機板，該主機板上裝有測試針，用于與外界的通信系統(tǒng)主板連通，在出廠前非熱插拔光收發(fā)一體模塊需要進行功能測試，測試時，將非熱插拔光收發(fā)一體模塊的測試針查到外界測試板的測試孔內(nèi)，通過測試針接觸測試孔進行傳遞信號，測試板通過測試孔取得外界信號，從而對非熱插拔光收發(fā)一體模塊進行測試。現(xiàn)有測試孔存在以下問題：1.測試孔的內(nèi)壁為金屬呈光滑狀；2.在使用多次后測試孔磨損導(dǎo)致測試孔變大；現(xiàn)有測試針大部分是圓柱形，在測試過程中，圓柱形的測試針與表面呈光滑狀的測試孔接觸時容易滑動松脫，從而兩者存在接觸不良的問題，使得測試沒有發(fā)揮效用。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種非熱插拔收發(fā)一體模塊的測試裝置，它可以解決非熱插拔產(chǎn)品與測試孔接觸不良的問題。

為了解決上述問題，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：這種非熱插拔光收發(fā)一體模塊的測試裝置，包含測試板，所述測試板上裝有測試孔；所述測試孔內(nèi)側(cè)裝有金屬彈片，所述金屬彈片為兩個相向的弧形，所述金屬彈片間的距離小于測試測試針的直徑，所述金屬彈片有彈性。

由于采用了上述技術(shù)方案，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下有益效果：

1.在測試孔內(nèi)側(cè)設(shè)有金屬彈片，可以對非熱插拔收發(fā)一體模塊的測試針起夾持的作用，避免測試針在測試過程中接觸不良。

2.金屬彈片間的距離小于測試針的直徑，且具有彈性，可以使測試針比較容易地插入或拔出測試孔。

附圖說明

圖1是非熱插拔光收發(fā)一體模塊的測試板的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是非熱插拔光收發(fā)一體模塊的主視圖。

具體實施方式

以下結(jié)合附圖實施例對本發(fā)明作進一步詳述：

如圖1、圖2所示以包括2X5測試針的非熱插拔光收發(fā)一體模塊的測試裝置作為實施例說明。包含測試板1，測試板1上設(shè)有三個測試位4，測試位4上裝有與非熱插拔光收發(fā)一體模塊6的測試針7對應(yīng)的測試孔2，測試孔2內(nèi)側(cè)裝有兩塊相向的金屬彈片3，兩塊金屬彈片3間的距離小于測試針7的直徑，該金屬彈片3具有彈性。

工作時，將2X5測試針的非熱插拔光收發(fā)一體模塊6的測試針7插入測試孔2內(nèi)，金屬彈片3將插入的測試針7夾持固定，使其不能松動，從而保證接觸良好，通電后，非熱插拔光收發(fā)一體模塊6的電信號通過測試針7傳至金屬彈片3上，該金屬彈片3將信號傳遞通過測試孔2將電信號傳輸?shù)綔y試板1上，使測試板1進行測試工作，測試該非熱插拔光收發(fā)一體模塊6的功能，測試結(jié)果顯示在測試儀器5上。