[發明專利]一種紅外探測器單黑體響應率測試方法

有效

• 申請號: 201610088982.3
• 申請日: 2016-02-17
• 公開（公告）號: CN105628215B
• 公開（公告）日: 2019-02-19
• 發明（設計）人: 呂鵬;何旭嬌;談彬武;張豪;許勇;周平
• 申請（專利權）人: 無錫元創華芯微機電有限公司
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00
• 代理公司: 宜興市天宇知識產權事務所(普通合伙) 32208
• 代理人: 周舟

一種紅外探測器單黑體響應率測試方法，涉及光電探測器的標定和測量技術，通過在測試不同黑體溫度的探測器輸出時，首先采集同一基準面的數據，采用該基準面的探測器輸出數據對測試數據進行校正，進而計算出測試的響應率，計算公式如下：有效防止紅外探測器本身發生輸出漂移的現象，提高響應率的測試精度。

技術領域

本發明涉及光電探測器的標定和測量技術，特別是防止紅外探測器響應率隨溫度變化的單黑體響應率測試方法。

背景技術

響應率是指在指定波長下，探測器所產生的信號與入射的該波長光功率的比值，要實現其絕對測量需要準確測量得到入射到探測器的該波長的光功率和探測器產生的信號。

單黑體響應率測試的原理為：在光學測試結構滿足條件的前提下，不同黑體溫度下探測器的輸出之差與溫度與黑體溫度之差的比值；但是單黑體在在切換溫度的過程中，紅外探測器本身會發生輸出漂移的現象，降低了響應率的測試精度；有待改進。

發明內容

本發明針對現有技術的不足，提供了一種防止紅外探測器本身發生輸出漂移的現象，提高響應率的測試精度的紅外探測器單黑體響應率測試方法。

為實現本發明目的，提供了以下技術方案：一種紅外探測器單黑體響應率測試方法，在測試單黑體不同溫度時的紅外探測器輸出時，其特征在于包括以下步驟：

a.首先采集單黑體溫度為T1的基準電壓Vt1，單黑體溫度為T2的基準電壓Vt2；

b.然后當單黑體溫度切換成T1時，檢測出當時的輸出電壓V1，當單黑體溫度切換成T2時，檢測出當時的輸出電壓V2；

c.利用T1的基準電壓Vt1，T2的基準電壓Vt2對所要測試的溫度的數據進行校正，進而計算出測試的響應率，計算公式如下：

式中：Vr為紅外探測器的響應率，V1為探測器對在單黑體溫度為T1的輸出電壓，Vt1為在黑體溫度為T1的基準電壓，V2為探測器對著在黑體溫度為T2的輸出電壓，Vt2為在黑體溫度為T2的基準電壓，ΔT為T1-T2的溫度差。

本發明有益效果：本發明通過設置檢測基準數據，通過基準數據對測量數據進行逐行矯正，有效防止紅外探測器本身發生輸出漂移的現象，提高響應率的測試精度。

具體實施方式

實施例1：一種紅外探測器單黑體響應率測試方法，在測試單黑體不同溫度時的紅外探測器輸出時，其特征在于包括以下步驟：首先采集單黑體溫度為T1的基準電壓Vt1，單黑體溫度為T2的基準電壓Vt2；然后當單黑體溫度切換成T1時，檢測出當時的輸出電壓V1，當單黑體溫度切換成T2時，檢測出當時的輸出電壓V2；利用T1的基準電壓Vt1，T2的基準電壓Vt2對所要測試的溫度的數據進行校正，進而計算出測試的響應率，計算公式如下：

黑體溫度分別設置為20℃和35℃，采用常規方法測試的響應率見表1為：

表1 采用常規方法測試的響應率：

黑體溫度分別設置為20℃和35攝氏度，采用該專利方法測試的響應率見表2為：

表2 采用該申請方法測試的響應率：

對比表1和表2的響應率的標準差克制，采用該專利方法測試的響應率的重復性更高。