[發明專利]一種基于折半搜索算法的電離層穿刺點坐標計算方法

在審

• 申請號: 201610088229.4
• 申請日: 2016-02-17
• 公開（公告）號: CN105738919A
• 公開（公告）日: 2016-07-06
• 發明（設計）人: 余龍飛;胡伍生;韓理想
• 申請（專利權）人: 東南大學
• 主分類號: G01S19/07
• 分類號: G01S19/07
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 柏尚春

1.一種基于折半搜索算法的電離層穿刺點坐標計算方法，其特征在于：包括以下的步驟：

S1：初始化折半搜索算法的參數：初始化上邊界、下邊界和中心電離層的橢球高；

S2：探測位置的計算、判定探測位置是否滿足要求：根據上邊界和下邊界計算探測位置的大地空間直角坐標，并將探測位置的大地空間直角坐標轉換成大地坐標；將探測位置的橢球高與中心電離層的橢球高進行比較，判定探測位置是否滿足要求：如果探測位置的橢球高與中心電離層的橢球高相等，則探測位置滿足要求，進行步驟S4；否則，進行步驟S3；

S3：更新邊界條件，然后回到步驟S2；

S4：結束。

2.根據權利要求1所述的基于折半搜索算法的電離層穿刺點坐標計算方法，其特征在于：所述步驟S1包括以下的步驟：

S1.1：初始化上邊界

將導航衛星的大地空間直角坐標 X Y Z SAT T ]]>賦值給上邊界的大地空間直角坐標 X Y Z U T , ]]>如式(1)所示：

X Y Z U T : = X Y Z S A T T - - - ( 1 ) ]]>

S1.2：初始化下邊界

將接收機的大地空間直角坐標 X Y Z SAT T ]]>賦值給下邊界的大地空間直角坐標 X Y Z L T , ]]>如式(2)所示：

X Y Z L T : = X Y Z S A T T - - - ( 2 ) ]]>

S1.3：初始化中心電離層的橢球高

對中心電離層的橢球高進行初始化。