[發(fā)明專利]氧化硅玻璃坩堝的制造裝置及其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610087281.8 | 申請日: | 2010-08-09 |
| 公開(公告)號: | CN105712614A | 公開(公告)日: | 2016-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 須藤俊明;鈴木江梨子;岸弘史;藤田剛司 | 申請(專利權(quán))人: | 日本超精石英株式會社 |
| 主分類號: | C03B20/00 | 分類號: | C03B20/00;C30B15/10;C30B29/06 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 日本秋田縣*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氧化 玻璃 坩堝 制造 裝置 及其 方法 | ||
本申請為申請?zhí)?01080035202.X、申請日2010年08月09日、發(fā)明名稱“氧化硅玻璃 坩堝的制造裝置及其制造方法”的分案申請。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及氧化硅玻璃坩堝的制造裝置及其制造方法,尤其涉及硅單晶提拉用氧 化硅玻璃坩堝的制造中的內(nèi)表面特性的控制技術(shù)。
背景技術(shù)
在硅單晶的制造中,通常會采用使用氧化硅玻璃坩堝的切克勞斯基法(CZ法)。氧 化硅玻璃坩堝其內(nèi)部可貯存熔化的多結(jié)晶原料的硅熔液,從而在旋轉(zhuǎn)坩堝的同時(shí)將硅單晶 的晶種浸漬到其內(nèi)部的溶液中并慢慢進(jìn)行提升,并將晶種作為核心生長硅單晶并進(jìn)行提 拉。
這種氧化硅玻璃坩堝,具有包含多個(gè)氣泡的外層與透明的內(nèi)層所構(gòu)成的2層結(jié)構(gòu), 而內(nèi)層的表面特性,即提拉單晶時(shí)與硅熔液接觸的內(nèi)表面的特性,將左右被提升的硅單晶 的特性,并對最終的硅晶圓的收獲率也產(chǎn)生影響。因此,作為氧化硅玻璃坩堝,用非晶質(zhì)的 合成氧化硅粉構(gòu)成的合成氧化硅玻璃制造內(nèi)層,用天然氧化硅玻璃制成外層的技術(shù)已被公 知。
然而,在現(xiàn)有技術(shù)中頻繁發(fā)生如下問題。例如,用氧化硅玻璃坩堝熔化硅并提拉單 晶時(shí),硅熔液的液面上會發(fā)生波動,而難以實(shí)現(xiàn)適合的晶種浸漬進(jìn)行的熔接,或者,發(fā)生單 晶化被阻礙而導(dǎo)致的液面振動。而這種液面振動現(xiàn)象,隨著硅結(jié)晶的大口徑化,變得更容易 發(fā)生,因此,改善氧化硅玻璃坩堝的內(nèi)表面特性的要求非常強(qiáng)烈。
另一方面,用于上述的CZ法中的氧化硅玻璃坩堝,首先,在模具內(nèi)部堆積氧化硅粉 而形成氧化硅粉層,之后,通過電弧放電來熔化氧化硅粉層,并進(jìn)行冷卻固化而獲得。在這 種氧化硅玻璃坩堝的制造工程中,熔化氧化硅粉層時(shí),通過對氧化硅粉層的內(nèi)面進(jìn)行電弧 放電來進(jìn)行上述內(nèi)面的沖洗處理,即所謂的火拋光。這里所說的火拋光是,通過電弧放電來 熔化氧化硅粉而邊形成氧化硅玻璃層,同時(shí)用電弧去除熔融原料內(nèi)所產(chǎn)生的氣泡等的去除 處理。進(jìn)行根據(jù)這種火拋光的處理,能夠制造出內(nèi)表面特性優(yōu)越的氧化硅玻璃坩堝。
然而,如圖8所示,當(dāng)使用形成為直線狀的現(xiàn)有構(gòu)成的電極來制造氧化硅玻璃坩堝 的情況下,很難將來自多個(gè)電極113的電弧照射到氧化硅粉層111側(cè)壁內(nèi)面111b的整體上。 此時(shí),在底部內(nèi)面111a中,雖然能夠獲得用火拋光均勻去除氣泡的效果,但是在側(cè)壁內(nèi)面 111b中,仍存在難以實(shí)現(xiàn)氣泡去除效果的部位。這時(shí),如果來自形成為直線狀的多個(gè)電極 113的電弧放電直接照射到底部內(nèi)面111a,則這些部位中的氧化硅粉層111會有效地被熔 化。但是,如果采用了圖8所示的現(xiàn)有結(jié)構(gòu)的電極,則很難對氧化硅粉層111側(cè)壁內(nèi)面111b與 彎曲面進(jìn)行電弧的照射,甚至,難以給予輻射熱。因此,在制造出的氧化硅玻璃坩堝的側(cè)壁 內(nèi)面中,會出現(xiàn)產(chǎn)生在熔融原料內(nèi)的氣泡直接被固化而顯露的部位,導(dǎo)致內(nèi)表面的特性惡 化的問題。
而且,當(dāng)使用側(cè)壁內(nèi)面發(fā)生特性缺陷的氧化硅玻璃坩堝,并根據(jù)上述的CZ法來提 拉硅單晶的情況下,在坩堝內(nèi)的缺陷部位中單晶化被阻礙,而發(fā)生成品率降低的大問題。
而且,近幾年,為了對應(yīng)762~1016mm(30~40英寸)的大口徑晶片,要求進(jìn)行硅單 晶的大口徑化,與此相伴,也要求進(jìn)行氧化硅玻璃坩堝的大型化。因此,在制造氧化硅玻璃 坩堝的時(shí),為了熔化氧化硅粉層,需要增加電力量,需要提高施加到電極上電力,同時(shí),對于 表面積廣的氧化硅粉層的內(nèi)表面整體,需要均勻地照射電極所放出的電弧。然而,隨著氧化 硅玻璃坩堝的大型化,坩堝內(nèi)部的表面積會增大,因此,對側(cè)壁內(nèi)面整體進(jìn)行均勻地照射變 得更加困難。因此,根據(jù)火拋光來去除氣泡的去除處理變得不完整,制造后的氧化硅玻璃坩 堝的內(nèi)表面特性發(fā)生顯著的惡化。并且,如上所述,當(dāng)使用具有內(nèi)表面特性的缺陷的氧化硅 玻璃坩堝來提拉硅單晶時(shí),會發(fā)生硅單晶的生長不理想的問題。
在氧化硅玻璃坩堝的制造工程中,為了防止內(nèi)表面特性的缺陷,如專利文獻(xiàn)1中記 載的技術(shù),通過去除從熔化的氧化硅粉原料中發(fā)生的氧化硅蒸汽來去除裝置內(nèi)發(fā)生的雜質(zhì) 等。
而且,為了進(jìn)一步提高氧化硅玻璃坩堝的內(nèi)表面特性,如專利文獻(xiàn)2,3中記載了將 非晶質(zhì)的合成氧化硅粉作為形成氧化硅玻璃坩堝的內(nèi)表面的氧化硅粉的方法。
[背景技術(shù)文獻(xiàn)]
[專利文獻(xiàn)]
專利文獻(xiàn)1:日本公開專利特開2002-154894號公報(bào)
專利文獻(xiàn)2:日本授權(quán)專利特許第2811290號公報(bào)
專利文獻(xiàn)3:日本授權(quán)專利特許第2933404號公報(bào)
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