[發明專利]一種用于多時間程序存儲器的泵體結構及電子裝置

有效

• 申請號: 201610087268.2
• 申請日: 2016-02-16
• 公開（公告）號: CN107085447B
• 公開（公告）日: 2022-02-01
• 發明（設計）人: 權彞振;倪昊;鄭曉;殷常偉
• 申請（專利權）人: 中芯國際集成電路制造（上海）有限公司;中芯國際集成電路制造（北京）有限公司
• 主分類號: G05F1/567
• 分類號: G05F1/567
• 代理公司: 北京市磐華律師事務所 11336
• 代理人: 董巍;高偉

本發明提供一種用于多時間程序存儲器的泵體結構和電子裝置。所述泵體結構包括：溫度檢測單元，被配置為用于檢測多個不同的溫度；泵參考偏置單元，被配置為用于基于所述溫度檢測單元檢測到的所述溫度，輸出相應的參考偏置；以及泵偏置調節單元，被配置為用于基于所述泵參考偏置單元的輸出來調節泵偏置。本發明的用于多時間程序存儲器的泵體結構可以用于很寬的溫度范圍，例如?40C至125C或更高的應用，并且具有低功耗。

技術領域

本發明涉及半導體領域，具體地，本發明涉及一種用于多時間程序存儲器的泵體結構及電子裝置。

背景技術

MTP(multiple-time-programmable)存儲器是當前新興的非易失存儲器。除了對存儲單元的編程和擦除外，對存儲單元的數據的正確讀出也是整個存儲器關鍵操作。隨著應用需求的增加，低電源電壓低功耗已經成為非易失存儲器的設計和發展方向。由于位線上的各種寄生電容并未隨著工作電壓的降低和工作電流的下降而有所減小。

針對用于寬范圍溫度的MTP(多時間程序)存儲器應用，需要考慮針對所有范圍的溫度的泵可驅動性。針對高溫度范圍，必須滿足程序的泵規范并且去除某些性能。特別地，在高溫情況下(例如，125C)，MTP單元具有較高的泄露。

因此，需要提供一種用于多時間程序存儲器的泵體結構，以解決上面提到的問題。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明通過溫度檢測單元來使用不同的泵可驅動性，并且通過泵調節器來利用不同的參考偏置。在低溫度情形下，使用較低的泵輸出水平，而在高溫度情形下，泵水平自動增加。

本發明的實施例提供一種用于多時間程序存儲器的泵體結構，所述泵體結構包括：溫度檢測單元，被配置為用于檢測多個不同的溫度；泵參考偏置單元，被配置為用于基于所述溫度檢測單元檢測到的所述溫度，輸出相應的參考偏置進而來控制泵輸出偏置；以及泵偏置調節單元，被配置為用于基于所述泵參考偏置單元的輸出來調節泵偏置泵參考偏置復用單元。

示例性地，所述泵參考偏置復用單元包括偏置通過塊，所述偏置通過塊包括并聯連接的第一開關和第二開關，其中所述第一開關的源極與所述第二開關的源極相連接，所述第一開關的漏極與所述第二開關的漏極相連接。

示例性地，所述泵參考偏置復用單元包括還包括第一反相器，其中所述第一反相器的一端與所述第一開關的柵極相連接，所述第一反相器的另一端與所述第二開關的柵極相連接。

示例性地，所述泵參考偏置復用單元還包括并聯連接的第三開關和第四開關，其中所述第三開關的源極與所述第四開關的源極相連接，所述第三開關的漏極與所述第四開關的漏極相連接。

示例性地，所述泵參考偏置復用單元包括還包括第二反相器，其中所述第二反相器的一端與所述第三開關的柵極相連接，所述第二反相器的另一端與所述第四開關的柵極相連接。

本發明的又一實施例提供一種電子裝置，包括所述的用于多時間程序存儲器的泵體結構。

根據本發明的泵體結構可以用于很寬的溫度范圍，例如-40C至125C或更高的應用，并且具有低功耗。

附圖說明

通過結合附圖對本發明實施例進行更詳細的描述，本發明的上述以及其它目的、特征和優勢將變得更加明顯。附圖用來提供對本發明實施例的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本發明實施例一起用于解釋本發明，并不構成對本發明的限制。在附圖中，相同的參考標號通常代表相同部件或步驟。

圖1為現有技術中的慣常泵體結構的示意性框圖；

圖2為根據本發明的用于多時間程序存儲器的泵體結構的示意性框圖；

圖3為根據本發明的實施例的用于多時間程序存儲器的泵體結構的示意性框圖；

圖4為根據本發明的實施例的參考復用器塊的示意性電路圖；