[發明專利]一種基于反射系數分析的砂體疊置關系判別方法

有效

• 申請號: 201610086619.8
• 申請日: 2016-02-16
• 公開（公告）號: CN105676288B
• 公開（公告）日: 2017-11-21
• 發明（設計）人: 范廷恩;胡光義;馬淑芳;王暉;宋來明;王海峰;王宗俊;張晶玉;梁旭;井涌泉;肖大坤;劉向南;陳飛;王帥;解超
• 申請（專利權）人: 中國海洋石油總公司;中海油研究總院
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司11245
• 代理人: 徐寧,關暢

技術領域

本發明涉及一種地球物理地震勘探方法，尤其涉及一種基于反射系數分析的砂體疊置關系判別方法。

背景技術

地震勘探方法是尋找地下油氣儲集層的一類十分重要的方法，但受地震資料分辨率的限制，直接在地震剖面上研究薄層砂體具有很大的難度，想要判斷兩層薄層砂體的疊置關系則更加困難。針對單一薄層砂體，前人提出利用薄層厚度和地震振幅或者頻率的關系來預測薄層的厚度，但利用這類方法來預測兩層疊置砂體的厚度關系，則會產生較大的誤差。

發明內容

針對上述問題，本發明的目的是提供一種基于反射系數分析的砂體疊置關系判別方法，可以較好的預測兩層疊置砂體的厚度關系，且具有較強的抗噪性，實用性較強。

為實現上述目的，本發明采取以下技術方案：一種基于反射系數分析的砂體疊置關系判別方法，包括以下步驟：

1)對目的層進行測井和地震勘探，根據得到的測井資料和實際地震記錄，估計目的層砂體和泥巖隔層的厚度范圍；在該厚度范圍內，分別設定兩層疊置砂體中上層砂體、泥巖隔層和下層砂體的可能厚度，以得到不同的兩層疊置砂體中上層砂體、泥巖隔層和下層砂體的可能厚度組合；根據測井資料和實際地震記錄，標定出上層砂體的起始位置；

2)根據步驟1)得到的不同的兩層疊置砂體中上層砂體、泥巖隔層和下層砂體的可能厚度組合，以及上層砂體的起始位置，生成不同的兩層疊置砂體的反射系數向量；

3)將步驟2)得到的不同的兩層疊置砂體的反射系數向量分別與地震子波進行褶積，生產不同的正演地震記錄；

4)將實際地震記錄與步驟3)得到的不同的正演地震記錄進行對比，判斷出最接近實際地震記錄的正演地震記錄，該正演地震記錄對應的兩層疊置砂體的上層砂體、泥巖隔層和下層砂體可能厚度組合，以及上層砂體起始位置，即為砂體疊置關系的最終預測結果。

所述步驟2)中生成不同兩層疊置砂體的反射系數向量，具體包括以下步驟：

①根據兩層疊置砂體中上層砂體、泥巖隔層和下層砂體的可能厚度組合，以及上層砂體的起始位置，得到兩層疊置砂體中四個分界面的位置；

②通過測井資料得到目的層砂體和泥巖隔層的阻抗值，根據兩層疊置砂體的四個分界面位置，以及砂體和泥巖隔層的阻抗值，生成兩層疊置砂體的反射系數向量；

③根據不同的兩層疊置砂體中上層砂體、泥巖隔層和下層砂體的可能厚度組合，以及上層砂體的起始位置，得到不同的分界面位置組合，生成不同的兩層疊置砂體反射系數向量。

所述步驟②中生成兩層疊置砂體的反射系數向量的公式為：

r＝[r(1)，…，r(i)，…，r(n)]^T

s＝(I₁+I₂)/(I₁-I₂)

式中，r表示兩層疊置砂體的反射系數向量；n表示反射系數向量r的元素個數；r(i)表示反射系數向量r的第i個元素，1≤i≤n；d_U、d_M和d_D分別表示兩層疊置砂體中上層砂體、泥巖隔層和下層砂體的可能厚度；d₀表示上層砂體的起始位置；I₁和I₂分別表示砂體和泥巖隔層的阻抗值；s、v₁、v₂、v₃、f₁和f₂均為計算參數；當d_U＝0時，v₁＝0，否則，v₁＝1；當d_M＝0時，v₂＝0，否則，v₂＝1；當d_D＝0時，v₃＝0，否則，v₃＝1；當v₂＝v₃＝0時，f₁＝1，否則，f₁＝v₂；當v₂＝v₁＝0時，f₂＝1，否則，f₂＝v₂。

所述步驟3)中生產不同的正演地震記錄，具體包括以下步驟：

I)從實際地震記錄中提取一個包括n_w個元素的列向量作為地震子波，并設定子波中心為c_w；