[發明專利]RFID標簽性能測試系統

有效

• 申請號: 201610084835.9
• 申請日: 2016-02-14
• 公開（公告）號: CN105738732B
• 公開（公告）日: 2018-06-19
• 發明（設計）人: 侯立功;陳天娥;吳偉;黃從貴
• 申請（專利權）人: 無錫職業技術學院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 南京君陶專利商標代理有限公司 32215
• 代理人: 奚勝元;奚曉寧

本發明標簽性能測試系統涉及的是一種標簽測試系統，特別適合于廣大中小RFID系統開發應用企業、科研院所等需要對RFID標簽性能進行測試的場合。包括測試儀、讀寫器、天線、天線固定支架和程控轉臺，天線固定支架設置在程控轉臺一側，天線固定支架上設有滑軌，天線安裝在天線固定支架上，所述天線能夠沿滑軌上下移動，讀寫器安裝在固定支架底部；天線通過饋線與讀寫器連接，測試儀通過網線與讀寫器相連，測試儀通過RS232串行通信接口與程控轉臺相連；所述測試儀采用工控機，在測試儀上裝有RFID標簽專用測試模塊，測試儀通過該專用測試模塊控制程控轉臺，并讀取天線采集到的RFID信號，完成標簽性能參數的測試。

技術領域

本發明標簽性能測試系統涉及的是一種標簽測試系統，特別適合于廣大中小RFID系統開發應用企業、科研院所等需要對RFID標簽性能進行測試的場合。

背景技術

目前市場上針對RFID標簽性能的測試主要通過頻譜分析儀等電子儀器來測量完成。而頻譜分析儀價格昂貴，應用復雜，加之RFID標簽天線的技術參數復雜，在不同的介質材料、不同的距離和角度情況下差異明顯，普通開發應用人員難以理解掌握。

發明內容

本發明的目的是針對上述不足之處提供一種RFID標簽性能測試系統，利用基于工控機平臺的測試儀，通過內置的專用測試程序控制程控轉臺并讀取天線采集到的RFID標簽信號后進行分析處理并顯示測試結果，從而完成標簽性能參數的測試，是一種經濟、易用的RFID標簽性能測試系統。

RFID標簽性能測試系統是采取以下技術方案實現的：

標簽性能測試系統包括測試儀、讀寫器、天線、天線固定支架和程控轉臺，天線固定支架設置在程控轉臺一側，天線固定支架上設有滑軌，天線安裝在天線固定支架上，所述天線能夠沿滑軌上下移動，讀寫器安裝在固定支架底部；天線通過饋線與讀寫器連接，測試儀通過網線與讀寫器相連，測試儀通過RS232串行通信接口與程控轉臺相連；

所述測試儀采用工控機，在測試儀上裝有RFID標簽專用測試模塊，測試儀通過該專用測試模塊控制程控轉臺，并讀取天線采集到的RFID信號，完成標簽性能參數的測試。

所述標簽性能測試系統還具有電波暗室，測試時將待測RFID標簽和RFID標簽性能測試系統置于電波暗室中，以減少外界電磁波信號的干擾。

所述RFID標簽專用測試模塊，包括：

讀取距離測試子模塊，用于測試讀取距離與頻率的關系；

寫入距離測試子模塊，用于測試寫入距離與頻率的關系；

標簽角度特性測試子模塊，用于測試不同方向角度所對應的最小響應功率。

所述標簽性能測試系統用于讀取距離測試、寫入距離測試以及標簽角度特性測試。

所述讀取距離測試子模塊的工作過程包括如下步驟：

1）在讀取距離測試子模塊的讀取距離測試界面設置最大頻率、最小頻率以及測試的頻率步長后開始測試；

2）在進行測試時，讀取距離測試子模塊接收天線傳來的每個測試點的數據，并將該數據逐個描繪在Power vs. Frequency圖表（即功率vs.頻率表）中，所述測試點的數據即每個頻率點所對應的最小響應功率；

3）當全部的點都測試過后，讀取距離測試子模塊將所有的讀取距離與頻率的關系描繪在Read Range vs. Frequency圖表（即讀取距離vs.頻率表）中；并同時生成FittingPower vs. Frequency圖表（即擬合功率vs.頻率表）；Fitting Power vs. Frequency圖表中顯示的數據是Power vs. Frequency圖表（即功率vs.頻率表）中數據擬合后的結果。

所述寫入距離測試子模塊的工作過程包括如下步驟：