[發明專利]自適應模擬量校準裝置

在審

• 申請號: 201610083683.0
• 申請日: 2016-02-04
• 公開（公告）號: CN105607574A
• 公開（公告）日: 2016-05-25
• 發明（設計）人: 劉海玲;張凱
• 申請（專利權）人: 天津市英貝特航天科技有限公司
• 主分類號: G05B19/05
• 分類號: G05B19/05
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及模擬信號采集的技術領域，具體說是一種自適應模擬量校準裝置。

背景技術

在各種工業自動化控制場合以及信號采集中，需要大量的模擬量信號采集，模擬量對信號質量要求很高，要求模擬量采集的精度越高越好，這樣能精確的知道現場的信號細微的變化，因此有必要設計相對高精度的模擬量采集板卡，但由于模擬量器件本身精度的限制，以及PCB印制板布線之間的干擾，從硬件方面解決模擬量精度作用有限，所以一般情況下，需要通過人工來校準參數，校準過程相對耗費人工，而且校準結果不準確，不利于批量校準測試。

　　發明內容

本發明要解決的技術問題是提供具體說是一種自適應模擬量校準裝置。

本發明為解決公知技術中存在的技術問題所采取的技術方案是:

本發明的自適應模擬量校準裝置，包括：CPU、FLASH存儲芯片、可編程邏輯器件、模擬量采集芯片、模擬開關、模擬量輸出芯片；其中CPU分別與FLASH存儲芯片和可編程邏輯器件相連接；可編程邏輯器件經模擬量輸出芯片連接到模擬開關，而模擬開關經模擬量采集芯片與可編程邏輯器件相連接，現場電壓接入到模擬開關。

本發明還可以采用以下技術措施：

CPU為德州儀器公司的TMS320C6713DSP芯片。

FLASH存儲芯片為AMD公司的AM29LV160D芯片。

可編程邏輯器件為Altera公司的EPM1270可編程邏輯器件。

模擬量采集芯片為模擬器件公司的AD7610芯片。

模擬開關為模擬器件公司的ADG1208模擬開關。

模擬量輸出芯片為模擬器件公司的AD5764DAC芯片。

本發明具有的優點和積極效果是:

本發明的自適應模擬量校準裝置中，集成了高精度模擬量輸出源，即AD5764芯片，在板卡上電后，先控制模擬開關，把模擬量采集芯片與模擬量輸出芯片連接到一起，通過控制模擬量輸出芯片以輸出不同的電壓值，通過模擬量采集芯片，校準不同電壓段的值，反復采集并校準，校準達到指定的要求后，再使用切換開關把現場的電壓信號連接到模擬量采集芯片上，進行正常的電壓信號采集測試，并把數據保留下來，等自動測試完成后，分析保存的數據，了解信號電平變化情況。本發明方法采用自動化校準采集參數，無需人工監視，自動反復采集校準，直到指標達到指定要求，節省了時間，縮短了產品的測試周期，具有針對性強、實施簡單和效率高等特點。

附圖說明

圖1是本發明的自適應模擬量校準裝置的架構示意圖。

具體實施方式

以下參照具體實施例對本發明進行詳細的說明。

如圖1所示，本發明的自適應模擬量校準裝置，包括：CPU、FLASH存儲芯片、可編程邏輯器件、模擬量采集芯片、模擬開關、模擬量輸出芯片；其中CPU分別與FLASH存儲芯片和可編程邏輯器件相連接；可編程邏輯器件經模擬量輸出芯片連接到模擬開關，而模擬開關經模擬量采集芯片與可編程邏輯器件相連接，現場電壓接入到模擬開關。

通過CPU通過總線給可編程邏輯器件指令，可編程邏輯器件控制模擬開關，把采集信號切換到模擬量輸出芯片上，然后通過控制模擬量輸出芯片以輸出不同的電壓值，通過模擬開關，把電壓值通過模擬量采集芯片采集上來，并把采集上來的數值給到可編程邏輯器件中，最后CPU讀取采集到的數據，結合模擬量輸出芯片輸出的數據，進行數據分析比對，查看誤差率，然后計算出誤差值，以進行校準；重復控制模擬量輸出芯片輸出不同的電壓值，反復采集校準，直到精度達到指定的要求，然后把最終的校準參數保存到FLASH存儲芯片，校準完成后，再通過控制模擬開關，把模擬量采集芯片切換到現場電壓上，進行正常采集，每次采集后再配合校準參數，以獲得較為準確的電壓數據，并把最終數據保存下來。

CPU為德州儀器公司的TMS320C6713DSP芯片。FLASH存儲芯片為AMD公司的AM29LV160D芯片。可編程邏輯器件為Altera公司的EPM1270可編程邏輯器件。模擬量采集芯片為模擬器件公司的AD7610芯片。模擬開關為模擬器件公司的ADG1208模擬開關。模擬量輸出芯片為模擬器件公司的AD5764DAC芯片。

以上所述，僅是本發明的較佳實施例而已，并非對本發明作任何形式上的限制，雖然本發明已以較佳實施例公開如上，然而，并非用以限定本發明,任何熟悉本專業的技術人員，在不脫離本發明技術方案范圍內,當然會利用揭示的技術內容作出些許更動或修飾，成為等同變化的等效實施例,但凡是未脫離本發明技術方案的內容，依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均屬于本發明技術方案的范圍內。