[發(fā)明專利]一種基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610079372.7 | 申請日: | 2016-02-04 |
| 公開(公告)號: | CN105651679A | 公開(公告)日: | 2016-06-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馮耀澤;余偉;陳偉;彭寬寬;穆渴心;李駿楊 | 申請(專利權(quán))人: | 華中農(nóng)業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01N15/10 | 分類號: | G01N15/10 |
| 代理公司: | 武漢開元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104 | 代理人: | 徐紹新 |
| 地址: | 430070 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 光譜 成像 技術(shù) 培養(yǎng)基 細(xì)菌 菌落 進(jìn)行 快速 分類 方法 | ||
1.一種基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的方法,其特征在 于,包含以下步驟:
S1.進(jìn)行細(xì)菌培養(yǎng),獲得細(xì)菌菌落培養(yǎng)基;
S2.采集培養(yǎng)基上細(xì)菌菌落的高光譜圖像,并對原始圖像進(jìn)行黑白文件校正處理;
S3.利用圖像處理技術(shù)獲取校正圖像的掩膜圖像,并提取細(xì)菌菌落的光譜數(shù)據(jù)信息;
S4.建立基于細(xì)菌類別和細(xì)菌光譜數(shù)據(jù)信息的全波長線性預(yù)測模型;
S5.運用多種波長選擇方法進(jìn)行特征波長優(yōu)選并建立相應(yīng)簡化模型;
S6.利用上述全波長預(yù)測模型和簡化模型分別對未知細(xì)菌樣本進(jìn)行預(yù)測。
2.如權(quán)利要求1所述的基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的 方法,其特征在于,在步驟S1中,所述的細(xì)菌菌落培養(yǎng)基為大腸桿菌培養(yǎng)基、李斯特 菌培養(yǎng)基和金黃色葡萄球菌培養(yǎng)基。
3.如權(quán)利要求1所述的基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的 方法,其特征在于,在步驟S2中,所述高光譜圖像為高光譜反射圖像。
4.如權(quán)利要求1所述的基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的 方法,其特征在于,在步驟S2中,利用如下公式對原始圖像進(jìn)行黑白文件校正處理:
其中,R0為校正圖像,R為原始圖像,W為白板,D是黑板。
5.如權(quán)利要求1所述的基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的 方法,其特征在于,在步驟S3中,利用大津閾值分割法對校正圖像進(jìn)行二值分割以得 到掩膜圖形,并利用掩膜圖像中細(xì)菌菌落所在的位置定位校正高光譜圖像中細(xì)菌菌落所 在的位置,從而提取出每個細(xì)菌菌落的光譜數(shù)據(jù)信息。
6.如權(quán)利要求1所述的基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的 方法,其特征在于,在步驟S3中,提取光譜數(shù)據(jù)信息時對原始光譜進(jìn)行了均值濾波。
7.如權(quán)利要求1所述的基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的 方法,其特征在于,在步驟S4中,全波長線性預(yù)測模型為偏最小二乘判別模型。
8.如權(quán)利要求1所述的基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的 方法,其特征在于,在步驟S5中,運用的多種波長選擇方法為競爭性自適應(yīng)重加權(quán)算 法、遺傳算法和最小角回歸算法。
9.如權(quán)利要求1所述的基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類的 方法,其特征在于,在步驟S5中,所述簡化模型為以所選特征波長為自變量,以細(xì)菌 種類為因變量的偏最小二乘判別模型。
10.如權(quán)利要求1所述的基于高光譜成像技術(shù)對培養(yǎng)基上的細(xì)菌菌落進(jìn)行快速分類 的方法,其特征在于,在步驟S6中,全波長預(yù)測模型及簡化模型對未知細(xì)菌菌落預(yù)測 性能好壞的評價指標(biāo)為決定系數(shù)、均方根誤差、潛變量數(shù)、優(yōu)選波長數(shù)、校正準(zhǔn)確率、 預(yù)測準(zhǔn)確率和置信預(yù)測準(zhǔn)確率。
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