[發明專利]支撐桿與應用此支撐桿的蝕刻設備在審
| 申請號: | 201610077664.7 | 申請日: | 2016-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN107037615A | 公開(公告)日: | 2017-08-11 |
| 發明(設計)人: | 鄭宏祥;許文宏 | 申請(專利權)人: | 南京瀚宇彩欣科技有限責任公司;瀚宇彩晶股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京中譽威圣知識產權代理有限公司11279 | 代理人: | 王正茂,叢芳 |
| 地址: | 210038 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 撐桿 應用 蝕刻 設備 | ||
1.一種蝕刻設備的支撐桿,其特征在于,所述蝕刻設備的支撐桿包含:
第一部分,其連接至控制裝置,以使所述控制裝置控制所述支撐桿的移動;
第二部分,其用以支撐玻璃基板,其中所述第二部分的材質為工程塑膠;以及
第三部分,其位于所述第一部分與所述第二部分之間,其中所述第三部分的材質為陶瓷材料。
2.如權利要求1所述的蝕刻設備的支撐桿,其特征在于,所述工程塑膠為聚酰亞胺。
3.如權利要求1所述的蝕刻設備的支撐桿,其特征在于,所述第一部分的材質為金屬。
4.如權利要求1所述的蝕刻設備的支撐桿,其特征在于,所述第三部分用以在所述支撐桿受到撞擊時提供潰縮機制。
5.如權利要求4所述的蝕刻設備的支撐桿,其特征在于,所述第三部分的材質為氧化鋯。
6.一種蝕刻設備,用以蝕刻玻璃基板,其特征在于,所述蝕刻設備包含:
蝕刻氣體供應裝置,其用以提供蝕刻氣體;
電極裝置,其用以離子化所述蝕刻氣體,所述電極裝置包含:
下電極部,其具有多個貫穿孔;以及
上電極部,其對應設置于所述下電極部上方;以及
多個支撐桿,其穿設于所述多個貫穿孔中,以支撐所述玻璃基板,使所述玻璃基板位于所述上電極部與所述下電極部之間,其中每個所述支撐桿包 含:
第一部分,其連接至控制裝置,以使所述控制裝置控制所述支撐桿的移動;
第二部分,其用以支撐玻璃基板,其中所述第二部分的材質為工程塑膠;以及
第三部分,其位于所述第一部分與所述第二部分之間,其中所述第三部分的材質為陶瓷材料。
7.如權利要求6所述的蝕刻設備,其特征在于,所述第一部分的材質為金屬。
8.如權利要求6所述的蝕刻設備,其特征在于,所述第三部分用以在所述支撐桿受到撞擊時提供潰縮機制。
9.如權利要求8所述的蝕刻設備,其特征在于,所述第三部分的材質為氧化鋯。
10.如權利要求6所述的蝕刻設備,其特征在于,所述玻璃基板具有可視區域,所述可視區域對應至所述下電極部的輔助支撐區域,所述多個貫穿孔的至少一個位于所述輔助支撐區域中。
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