[發明專利]一種剪切波彈性成像與準靜態成像結合的圖像優化方法有效
| 申請號: | 201610076975.1 | 申請日: | 2016-02-04 |
| 公開(公告)號: | CN105678703B | 公開(公告)日: | 2019-05-21 |
| 發明(設計)人: | 李德來;林國臻;林武平;李斌;蔡澤杭 | 申請(專利權)人: | 汕頭市超聲儀器研究所有限公司 |
| 主分類號: | G06T3/40 | 分類號: | G06T3/40;G06T5/50;G06T7/00 |
| 代理公司: | 汕頭市潮睿專利事務有限公司 44230 | 代理人: | 盧梓雄;丁德軒 |
| 地址: | 515041 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 剪切 彈性 成像 靜態 結合 圖像 優化 方法 | ||
一種剪切波彈性成像與準靜態成像結合的圖像優化方法,包括如下步驟:剪切波成像形成第一圖像;準靜態成像形成第二圖像;將第一圖像、第二圖像進行比較或疊加;判斷第一圖像、第二圖像中哪一幅圖像更接近事實真相,并選用更接近事實真相的這一幅圖像,以此來判斷被檢測部位的物理特征;或者判斷被檢測部位是否具有新的物理特征。由于分別對被檢測部位進行剪切波成像、準靜態成像,分別形成第一圖像、第二圖像,再將第一圖像、第二圖像進行比較或疊加,將剪切波彈性成像與準靜態成像綜合起來,提供更豐富的信息量,進行綜合判斷及分析,更準確地判斷被檢測部位的物理特征,還能夠判斷出被檢測部位是否具有新的物理特征。
技術領域
本發明涉及一種超聲成像處理方法,尤其涉及一種剪切波彈性成像與準靜態成像結合的圖像優化方法。
背景技術
目前,超聲成像主要有兩種方式:剪切波彈性成像和準靜態成像,這兩種超聲成像方式各有優缺點。
準靜態成像是通過壓迫被檢測部位,利用被壓迫部位的形變進行成像,能夠較直觀地判斷被檢測部位相對于周邊其它部位較軟還是較硬,但難以判斷出被檢測部位的物理特征,例如軟硬程度、彈性、內部應力等
剪切波彈性成像是通過發射一個剪切波作為激勵波并作用于被檢測部位,使被檢測部位與周邊部位發生一定的錯位(即是形變),在被檢測部位產生錯位期間,再發射用于超聲成像的掃查超聲波,掃查超聲波作用于已發生錯位的被檢測部位,在被檢測部位處發生多普勒效應,并產生相應的超聲回波,并且采用多普勒效應的采樣門技術,截取相應的超聲回波用于彈性成像。上述剪切波一般為具有剪切作用的超聲波。剪切波彈性成像能夠較為準確地判斷出被檢測部位的物理特征,例如軟硬程度、彈性、內部應力等,但是,容易受到其它雜波的干擾,會產生誤差,有時甚至會產生誤判斷。
發明內容
本發明要解決的技術問題是提供一種剪切波彈性成像與準靜態成像結合的圖像優化方法,這種剪切波彈性成像與準靜態成像結合的圖像優化方法將剪切波彈性成像與準靜態成像綜合起來,提供更豐富的信息量,能夠進行綜合判斷及分析,更準確地判斷被檢測部位的物理特征,也能夠選擇更接近事實真相的其中一幅圖像作為判斷依據,還能夠判斷出被檢測部位是否具有新的物理特征。采用的技術方案如下:
一種剪切波彈性成像與準靜態成像結合的圖像優化方法,包括分別對被檢測部位進行超聲成像的兩個并行步驟(1)剪切波成像形成第一圖像、(2)準靜態成像形成第二圖像,其特征在于還包括如下步驟:
(3)將所述第一圖像、第二圖像進行比較或疊加;
(4)當第一圖像、第二圖像所顯示被檢測部位的物理特征較為接近時,判斷第一圖像、第二圖像中哪一幅圖像更接近事實真相,并選用更接近事實真相的這一幅圖像,以此來判斷被檢測部位的物理特征;當第一圖像、第二圖像所顯示被檢測部位的物理特征一直存在較大差距時,則判斷被檢測部位具有新的物理特征。
在上述判斷第一圖像、第二圖像中哪一幅圖像更接近事實真相時,當從第一圖像、第二圖像中得出的結論相接近時,根據所檢查部位,由臨床醫生/工程師給出建議選擇,如果沒有建議,則選擇具有定量優勢的剪切波成像所形成的第一圖像。
本發明分別對被檢測部位進行剪切波成像、準靜態成像,分別形成第一圖像、第二圖像,再將第一圖像、第二圖像進行比較或疊加,將第一圖像(剪切波彈性成像)與第二圖像(準靜態成像)綜合起來,提供更豐富的信息量,進行綜合判斷及分析,更準確地判斷被檢測部位的物理特征,也能夠選擇更接近事實真相的其中一幅圖像作為判斷依據,還能夠判斷出被檢測部位是否具有新的物理特征。
作為本發明的優選方案,所述步驟(3)中對第一圖像、第二圖像進行疊加包括如下步驟:
(3-1)設置第一圖像的加權值A、第二圖像的加權值B,A、B的取值范圍均為0~1,并且A+B=1;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于汕頭市超聲儀器研究所有限公司,未經汕頭市超聲儀器研究所有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610076975.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





