[發明專利]用電檢測裝置

有效

• 申請號: 201610074697.6
• 申請日: 2016-02-02
• 公開（公告）號: CN107026427B
• 公開（公告）日: 2019-10-18
• 發明（設計）人: 李成力;岳國蘭;張偉;許靚
• 申請（專利權）人: 益而益(集團)有限公司
• 主分類號: H02H3/32
• 分類號: H02H3/32;G01R31/02
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 鄭立柱

1.一種用電檢測裝置，其特征在于，包括：

自檢或漏電選擇觸發單元，用于選擇漏電故障檢測模式或自檢模式；

自檢單元，用于在所述自檢模式中周期性地產生模擬漏電信號；以及

漏電故障檢測單元，用于在所述漏電故障檢測模式中檢測漏電故障，以及在所述自檢模式中檢測所述模擬漏電信號；

其中，所述自檢或漏電選擇觸發單元還用于在所述漏電故障時斷開電源，以及根據所述漏電故障檢測單元是否檢測到所述模擬漏電信號來向所述自檢單元發送自檢結果；

其中，所述自檢單元還用于顯示所述自檢結果。

2.根據權利要求1所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述自檢或漏電選擇觸發單元包括第一可控硅，通過導通所述第一可控硅來選擇所述漏電故障檢測模式，以及通過斷開所述第一可控硅來選擇所述自檢模式。

3.根據權利要求1所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述自檢或漏電選擇觸發單元包括第四晶體管和第五晶體管，通過斷開所述第四晶體管和導通所述第五晶體管來選擇所述漏電故障檢測模式，以及通過導通所述第四晶體管和斷開所述第五晶體管來選擇所述自檢模式。

4.根據權利要求1所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述自檢或漏電選擇觸發單元包括第四晶體管和光耦開關，通過斷開所述第四晶體管和導通所述光耦開關來選擇所述漏電故障檢測模式，以及通過導通所述第四晶體管和斷開所述光耦開關來選擇所述自檢模式。

5.根據權利要求2至4中任一項所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述自檢或漏電選擇觸發單元還包括第二可控硅，在所述漏電故障檢測模式中通過導通所述第二可控硅來斷開電源，以及在所述自檢模式中通過所述第二可控硅的導通或斷開來向所述自檢單元發送所述自檢結果。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述自檢或漏電選擇觸發單元還包括第一故障顯示單元，所述第一故障顯示單元用于顯示所述漏電故障。

7.根據權利要求1至4中任一項所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述自檢單元包括：

參考電壓生成子單元，用于生成參考電壓；

周期設置子單元，用于生成周期變化的電壓，所述周期變化的電壓在所述周期的不同階段分別大于和小于所述參考電壓；

比較器，用于比較所述參考電壓和所述周期變化的電壓；以及

第一晶體管，用于根據所述比較的結果產生所述模擬漏電信號。

8.根據權利要求7所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述自檢單元還包括第二故障顯示單元，所述第二故障顯示單元用于顯示所述用電檢測裝置的故障。

9.根據權利要求1至4中任一項所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述漏電故障檢測單元包括：

檢測線圈，用于檢測漏電流或者所述模擬漏電信號；

處理器，用于將所述檢測線圈的檢測結果發送給所述自檢或漏電選擇觸發單元。

10.根據權利要求1至4中任一項所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述用電檢測裝置還包括：

電源單元，用于為所述用電檢測裝置供電；以及

繼電器保持單元，用于在上電后保持繼電器開關的閉合。

11.根據權利要求10所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述繼電器保持單元包括復位開關、第二晶體管和第三晶體管，其中，通過閉合所述復位開關使得所述第二晶體管和所述第三晶體管保持閉合，以使得所述繼電器開關保持閉合。

12.根據權利要求10所述的用電檢測裝置，其特征在于，所述繼電器保持單元包括電容、第二晶體管和第三晶體管，其中，在上電后通過所述電容使得所述第二晶體管和所述第三晶體管保持閉合，以使得所述繼電器開關保持閉合。