[發(fā)明專利]測試校準(zhǔn)包括數(shù)字接口的多入多出天線陣列的系統(tǒng)和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610074228.4 | 申請日： | 2016-02-02 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN107026695B | 公開（公告）日： | 2021-06-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 孔宏偉;朱文;景雅;左豫;陳少波 | 申請（專利權(quán)）人： | 是德科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | H04B17/12 | 分類號(hào)： | H04B17/12 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律師事務(wù)所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 校準(zhǔn) 包括 數(shù)字 接口 多入多出 天線 陣列 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種測試系統(tǒng)，其包括：
測試腔室，其包括：空間間隔探針天線的陣列；以及定位器，其配置為支撐具有數(shù)字天線元件的陣列的待測試設(shè)備(DUT)；
射頻(RF)信號(hào)發(fā)生器和分析器，其配置為將RF測試信號(hào)發(fā)送到空間間隔探針天線以及從空間間隔探針天線接收RF測試信號(hào)；
RF切換器組件，其配置為將所述RF信號(hào)發(fā)生器和分析器有選擇地耦合到所述測試腔室內(nèi)的空間間隔探針天線的陣列；
數(shù)字測試儀器，其包括：
至少一個(gè)數(shù)字信號(hào)發(fā)生器和分析器，其配置為在發(fā)射機(jī)測試模式下生成去往DUT的數(shù)字天線元件的數(shù)字測試信號(hào)，并且在接收機(jī)測試模式下分析從DUT的數(shù)字天線元件接收到的數(shù)字測試信號(hào)，
可編程硬件設(shè)備，其配置為實(shí)現(xiàn)用于所生成的接收到的數(shù)字測試信號(hào)的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議，以及
數(shù)字光纖接口，其配置為將可編程硬件設(shè)備耦合到DUT的數(shù)字天線元件的陣列，并且收發(fā)去往/來自DUT的數(shù)字天線元件的陣列的數(shù)字測試信號(hào)；
同步模塊，其配置為對(duì)RF信號(hào)發(fā)生器和分析器以及數(shù)字測試儀器進(jìn)行同步；以及
測試控制器，其配置為在DUT的測試期間控制定位器、RF信號(hào)發(fā)生器和分析器、RF切換器組件、數(shù)字測試儀器的操作。
2.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中，所述定位器能夠在所述測試腔室內(nèi)旋轉(zhuǎn)；并且其中，所述測試控制器配置為在DUT的測試期間控制所述定位器的旋轉(zhuǎn)。
3.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中，所述可編程硬件設(shè)備包括：
分路器/組合器，其耦合到所述至少一個(gè)數(shù)字信號(hào)發(fā)生器和分析器；
時(shí)間延遲模塊，其配置為對(duì)于從所述至少一個(gè)數(shù)字信號(hào)發(fā)生器和分析器向DUT的每一個(gè)數(shù)字天線元件正生成的測試信號(hào)，實(shí)現(xiàn)不同的時(shí)間延遲；以及
協(xié)議模塊，其用于實(shí)現(xiàn)用于所生成的數(shù)字測試信號(hào)的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議。
4.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中，所述可編程硬件設(shè)備包括：
分路器/組合器，其耦合到所述至少一個(gè)數(shù)字信號(hào)發(fā)生器和分析器；
校準(zhǔn)模塊，其配置為在波束測試模式下實(shí)現(xiàn)用于DUT的每一個(gè)數(shù)字天線元件的校準(zhǔn)系數(shù)；
波束加權(quán)模塊，其配置為在波束測試模式下在期望的方向上將波束加權(quán)應(yīng)用于DUT的每一個(gè)數(shù)字天線元件以指引波束；以及
協(xié)議模塊，其用于實(shí)現(xiàn)用于所生成的數(shù)字測試信號(hào)的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議。
5.如權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其中，定位器能夠在測試腔室內(nèi)的方位角平面和俯仰平面中旋轉(zhuǎn)；并且其中，測試控制器配置為在波束測試模式期間控制所述定位器的旋轉(zhuǎn)。
6.一種測試具有數(shù)字天線元件的陣列的待測試設(shè)備(DUT)的方法，所述方法包括：
將DUT定位在包括空間間隔探針天線的陣列的測試腔室中的定位器上；
使用射頻(RF)信號(hào)發(fā)生器和分析器將RF測試信號(hào)發(fā)送到空間間隔探針天線以及從空間間隔探針天線接收RF測試信號(hào)；
通過RF切換器組件有選擇地將RF信號(hào)發(fā)生器和分析器耦合到所述空間間隔探針天線的陣列；
使用數(shù)字測試儀器測量對(duì)DUT的每個(gè)數(shù)字天線元件的寬帶信道沖擊響應(yīng)，所述數(shù)字測試儀器包括：
至少一個(gè)數(shù)字信號(hào)發(fā)生器和分析器，其在發(fā)射機(jī)測試模式下生成去往DUT的數(shù)字天線元件的數(shù)字測試信號(hào)，并且在接收機(jī)測試模式下分析從DUT的數(shù)字天線元件接收到的數(shù)字測試信號(hào)，
可編程硬件設(shè)備，其實(shí)現(xiàn)用于所生成的接收到的數(shù)字測試信號(hào)的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議，以及
數(shù)字光纖接口，其將所述可編程硬件設(shè)備耦合到DUT的數(shù)字天線元件的陣列，并且收發(fā)去往/來自DUT的數(shù)字天線元件的陣列的數(shù)字測試信號(hào)；
使用同步模塊對(duì)所述RF信號(hào)發(fā)生器和分析器以及所述數(shù)字測試儀器進(jìn)行同步；以及
使用測試控制器在DUT的測試期間控制所述定位器、所述RF信號(hào)發(fā)生器和分析器、所述RF切換器組件、所述數(shù)字測試儀器的操作。
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