[發明專利]一種用于薄膜標簽瑕疵檢測的圖像分割方法

有效

• 申請號: 201610073959.7
• 申請日: 2016-02-03
• 公開（公告）號: CN105741298B
• 公開（公告）日: 2018-08-14
• 發明（設計）人: 余長宏;江志鵬;段巨力;王效靈
• 申請（專利權）人: 浙江工商大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/194
• 代理公司: 浙江杭州金通專利事務所有限公司 33100
• 代理人: 王佳健

本發明涉及一種用于薄膜標簽瑕疵檢測的圖像分割方法。本發明首先通過工業相機采集薄膜標簽的BMP圖像，并將圖片轉為灰度圖，統計灰度值相同的像素點的個數，并畫出直方圖；其次利用差值法對直方圖進行平滑，剔除毛刺；然后統計每個波峰的起始，波峰位置以及終止位置，并由此確定閾值。最后依據該閾值對圖像進行分割。本發明提高了薄膜標簽瑕疵的識別正確率，同時該類應用對于人力成本的節省以及勞動生產率的提高起到了重要作用。

技術領域

本發明屬于圖像處理技術領域，涉及一種用于薄膜標簽瑕疵檢測的圖像分割方法。

背景技術

在薄膜標簽的瑕疵檢測中，由于最終是對二值圖進行處理來判別瑕疵，圖像分割的好壞決定了后期圖像處理的效果，因此圖像分割在薄膜標簽的瑕疵檢測此類應用中占據了重要地位。

現有技術存在以下缺陷

a)分割的閾值選取不當會導致二值化的效果差

b)部分細節處理不當，例如薄膜標簽背面的字跡也被進行了二值化，被顯示了出來，對于瑕疵檢測的干擾極大。

發明內容

本發明針對現有技術的不足，提出了一種用于薄膜標簽瑕疵檢測的圖像分割方法。

本發明解決技術問題所采取的技術方案步驟如下：

步驟一：通過工業相機采集薄膜標簽的BMP圖像，并將圖片轉為灰度圖。

步驟二：統計灰度值相同的像素點的個數，并畫出直方圖。

步驟三：利用差值法對直方圖進行平滑，剔除毛刺。

步驟四：統計每個波峰的起始，波峰位置以及終止位置。

規定連續六個及六個以上的遞增則為波的遞增段，連續六個及六個以下的遞減則為波的遞減段；設連續遞增的值用UP表示，連續遞減的值用Down表示，pTistogram[i]表示每個灰度值的個數，去除偽波或者半波處理如下：

遞增階段：

情況一：當UP++,若Down<4，則Down＝0；

情況二：當UP++，若Down>3,則UP＝1,Down＝0；

情況三：當Down++，若UP<4，則UP＝0；

情況四：當Down++，若4<＝UP<6&&Down>3則,UP＝0；

情況五：當Down++,若UP>＝6&&Down>3,則確定初始位置和波峰位置，UP＝0，Down保持不變，此時結束波的遞增段尋找，開始尋找波的遞減段；

其中UP++表示連續遞增，Down++表示遞增的時候突然一個或者連續幾個遞減；

遞減階段：

情況一：當Down′++,若UP&lt;4,則UP＝0；

情況二：當Down′++,若UP&gt;3,則Down＝1,UP＝0；

情況三：當UP′++,若4&lt;＝Down&lt;6，則Down＝0；

情況四：當UP′++,若Down&lt;4,則Down＝0；

情況五：當Down′++，若Down>＝6&&pTistogram[i+1]<200，則確定終止點位置，則結束第一個波的尋找，開始尋找第二個波的遞增段；