[發明專利]減反膜玻璃及其制備方法有效
| 申請號: | 201610071724.4 | 申請日: | 2016-02-02 |
| 公開(公告)號: | CN105585253A | 公開(公告)日: | 2016-05-18 |
| 發明(設計)人: | 蘇華;于思遠 | 申請(專利權)人: | 深圳新晶泉技術有限公司 |
| 主分類號: | C03C17/34 | 分類號: | C03C17/34 |
| 代理公司: | 深圳冠華專利事務所(普通合伙) 44267 | 代理人: | 諸蘭芬 |
| 地址: | 518067 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 減反膜 玻璃 及其 制備 方法 | ||
1.一種減反膜玻璃,其包括玻璃基體,其特征在于,該減反膜玻璃還包括形成于該玻璃 基體表面的四層減反膜,該四層減反膜由高折射率介質膜和低折射率介質膜依次層疊形 成;在該四層減反膜中,最靠近該玻璃基體表面的為高折射率介質膜,遠離該玻璃基體表面 的最外層為低折射率介質膜。
2.根據權利要求1所述的減反膜玻璃,其特征在于,該四層減反膜為依次形成在該玻璃 基體表面的第一高折射率介質膜、第一低折射率介質膜、第二高折射率介質膜及第二低折 射率介質膜。
3.根據權利要求2所述的減反膜玻璃,其特征在于,所述的第一高折射率介質膜材料為 氮化硅、氧化鈦或氧化鈮,其厚度為5~30nm。
4.根據權利要求2所述的減反膜玻璃,其特征在于,所述的第一低折射率介質膜材料為 氧化硅,其厚度為20~60nm。
5.根據權利要求2所述的減反膜玻璃,其特征在于,所述的第二高折射率介質膜材料為 氮化硅、氧化鈦或氧化鈮,其厚度為20~130nm。
6.根據權利要求2所述的減反膜玻璃,其特征在于,所述的第二低折射率介質膜材料為 氧化硅,其厚度為70~150nm。
7.根據權利要求1所述的減反膜玻璃,其特征在于,所述的減反膜玻璃正面可見光反射 率低于5%。
8.根據權利要求1所述的減反膜玻璃,其特征在于,所述的減反膜玻璃具有全角度反射 色呈中性的特征,反射光與減反膜玻璃夾角從0o到180o的反射色,其a*值介于(-3,1)之間, b*值介于(-3,1)之間。
9.一種減反膜玻璃的制備方法,其包括如下步驟:
S1、清洗玻璃基體,干燥后放置進入磁控濺射區;
S2、中頻電源加旋轉陰極濺射沉積第一高折射率介質層;
S3、中頻電源加旋轉陰極濺射沉積第一低折射率介質層;
S4、中頻電源加旋轉陰極濺射沉積第二高折射率介質層;及
S5、中頻電源加旋轉陰極濺射沉積第二低折射率介質層。
10.如權利要求9所述的減反膜玻璃的制造方法,其特征在于,所述的中頻電源加旋轉 陰極濺射是在氬氧或氬氮氛圍中進行。
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