[發明專利]使用棱鏡分光的共光路點衍射同步移相干涉測試裝置有效
| 申請號: | 201610071045.7 | 申請日: | 2016-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN107024338B | 公開(公告)日: | 2020-04-21 |
| 發明(設計)人: | 周翔;蔣超;郭仁慧;張輝欽;鄭東暉;陳磊;李建欣;何勇 | 申請(專利權)人: | 南京理工大學 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 南京理工大學專利中心 32203 | 代理人: | 朱沉雁 |
| 地址: | 210094 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 棱鏡 分光 共光路點 衍射 同步 相干 測試 裝置 | ||
1.一種使用棱鏡分光的共光路點衍射同步移相干涉測試裝置,其特征在于:包括測試光路(17)、4
所述4
所述移相光路(20)包括共光軸依次設置的縮束系統(14)、偏振陣列(15)和探測器(16),四束合束的參考光和測試光經縮束系統(14)縮束后,入射至偏振陣列(15),偏振陣列(15)由四個通光軸方向分別為0°、45°、90°和135°的線偏振器呈“田”字型排列組成,分別產生0、π/2、π和3π/2的移相,之后被探測器(16)接收,獲得四幅移相干涉圖像;
所述分光光路(19)包括
2.根據權利要求1所述的使用棱鏡分光的共光路點衍射同步移相干涉測試裝置,其特征在于:所述第一分光棱鏡組(11)中第一三角棱鏡(21)的長直角邊所在的矩形面鍍有高反膜,第二三角棱鏡(22)所在的矩形面與第三三角棱鏡(23)長直角邊所在的矩形面之間夾有一層半透半反膜;第二分光棱鏡組(12)中第四三角棱鏡(24)的長直角邊所在的矩形面鍍有高反膜,第五三角棱鏡(25)所在的矩形面與第六三角棱鏡(26)長直角邊所在的矩形面之間夾有一層半透半反膜;第三分光棱鏡組(13)中第七三角棱鏡(27)的長直角邊所在的矩形面鍍有高反膜,第八三角棱鏡(28)所在的矩形面與第九三角棱鏡(29)長直角邊所在的矩形面之間夾有一層半透半反膜。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南京理工大學,未經南京理工大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610071045.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:插座(0015-B8513SD)
- 下一篇:一種閥門測試設備及其自舉缸系統





