[發明專利]一種圖像處理中壞點去除的方法

有效

• 申請號: 201610070948.3
• 申請日: 2016-02-01
• 公開（公告）號: CN105704406B
• 公開（公告）日: 2018-12-18
• 發明（設計）人: 李赟晟;王勇;王凱;葉紅磊
• 申請（專利權）人: 上海集成電路研發中心有限公司
• 主分類號: H04N5/367
• 分類號: H04N5/367;H04N9/04
• 代理公司: 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275
• 代理人: 吳世華;尹英

本發明提供了一種圖像處理中壞點去除的方法，包括：采集一張全黑的raw圖像；確認raw圖像中的壞點；對壞點進行校正，采用與該壞點相鄰最近的同一顏色的非壞點像素來替換該壞點；其中，針對第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中的所有單號像素和雙號像素分別設定像素閾值，比較單號或雙號像素的值與所設定的相應像素閾值的大小，當單號或雙號像素的值大于所設定的相應像素閾值時，則該像素為壞點；從第三行和第三列開始，針對每一個像素設定像素閾值，并且比較每一個像素的值與所設定的相應像素閾值的大小，當某個像素的值大于所設定的相應像素閾值時，則該像素為壞點；從第三行和第三列開始，針對每一個壞點的確認和校正交替進行。

技術領域

本發明涉及半導體技術領域，具體涉及一種圖像處理中壞點去除的方法。

背景技術

在圖像成像過程中，最先出來的Raw圖像數據會存在擁有壞點的現象，壞點將導致整個圖像質量下降。因此，需要對圖像成像過程中的壞點進行去除。

通常對整個圖像進行校正，面對壞點較集中的區域，校正效果不明顯；或者雖然在一定程度上能達到明顯的校正效果，但是采用的運算步驟較為復雜，例如，一般采用從多種梯度來對壞點進行判斷和校正，其運算過程繁長；此外，該方法對于壞點聚集的區域，會出現校正后的壞點仍然是壞點的問題，校正效果實際上并不理想。

發明內容

為了克服以上問題，本發明提供了一種較為簡單的圖像處理中壞點去除的方法，以提高壞點校正效率。

為了達到上述目的，本發明提供了一種圖像處理中壞點去除的方法，其包括：

步驟01：采集一張全黑的raw圖像；

步驟02：確認所述raw圖像中的壞點；

步驟03：對壞點進行校正，采用與該壞點相鄰最近的同一顏色的非壞點像素來替換該壞點；

其中，

步驟02中，針對第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中的所有單號像素和雙號像素分別設定像素閾值，并且比較單號像素的值或雙號像素的值與所設定的相應像素閾值的大小，當單號像素的值或雙號像素的值大于所設定的相應像素閾值時，則該單號像素或雙號像素為壞點；從第三行和第三列開始，針對每一個像素設定像素閾值，并且比較每一個像素的值與所設定的相應像素閾值的大小，當某個像素的值大于所設定的相應像素閾值時，則該像素為壞點；并且，從第三行和第三列開始，針對每一個壞點的確認和校正交替進行。

優選地，針對所述單號像素的壞點確認包括：

步驟0201：設定一個閾值系數，分別計算出第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中所有單號像素的中值；

步驟0202：將所述中值和所述閾值系數的乘積作為所述單號像素的像素閾值；

步驟0203：比較所述單號像素的值與所述單號像素的像素閾值，當所述單號像素的值大于所述單號像素的像素閾值時，則該單號像素為所述每一行或每一列的壞點；

針對所述雙號像素的壞點確認包括：

步驟0204：設定一個閾值系數，分別計算出第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中所有雙號像素的中值；

步驟0205：將所述中值和所述閾值系數的乘積作為所述雙號像素的像素閾值；

步驟0206：比較所述雙號像素的值與所述雙號像素的像素閾值，當所述雙號像素的值大于所述雙號像素的像素閾值時，則該雙號像素為所述每一行或每一列的壞點。

優選地，所述單號像素的中值或所述雙號像素的中值的計算包括：將第一行、第二行、第一列和第二列中的每一行的像素值求平均值或每一列的像素值求平均值。