[發明專利]電子裝置及其按鍵狀態的檢測方法

有效

• 申請號: 201610069320.1
• 申請日: 2016-02-01
• 公開（公告）號: CN106872817B
• 公開（公告）日: 2020-01-31
• 發明（設計）人: 侯慶敏;蔡安綺;黃子譯
• 申請（專利權）人: 聯陽半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 11205 北京同立鈞成知識產權代理有限公司
• 代理人: 馬雯雯;臧建明

本發明提供一種電子裝置及其按鍵狀態的檢測方法，電子裝置包括按鍵模塊、按鍵控制電路、具校正機制的轉換電路與處理器。按鍵控制電路檢測按鍵模塊的按鍵是否被按壓，若檢測結果為是，按鍵控制電路對每一個按鍵的被按壓狀態進行掃描以得到粗略掃描結果。具校正機制的轉換電路用以執行電子裝置的其他系統功能。當處理器根據粗略掃描結果而判斷至少一個按鍵未被按壓時，具校正機制的轉換電路被切換以支持對上述至少一個按鍵的被按壓狀態的重新掃描運作。本發明不僅可精準地判斷出按鍵的被按壓狀態，還可提高電子裝置的電路資源利用率。

技術領域

本發明涉及一種電子裝置，尤其涉及一種可避免按鍵誤判情況的電子裝置及其按鍵狀態的檢測方法。

背景技術

請參照圖1，圖1顯示已知的鍵盤裝置100。鍵盤裝置100中可包括按鍵SW1～SW4以及比較器10、比較器20。按鍵SW1耦接在驅動線DL1與感測線SL1之間；按鍵SW2耦接在驅動線DL1與感測線SL2之間；按鍵SW3耦接在驅動線DL2與感測線SL1之間；按鍵SW4耦接在驅動線DL2與感測線SL2之間。比較器10耦接到感測線SL1以接收電壓信號SV1，并將電壓信號SV1與參考電壓Vref進行比較。同樣地，比較器20耦接到感測線SL2以接收電壓信號SV2，并將電壓信號SV2與參考電壓Vref進行比較。

在進行按鍵SW1～SW4的被按壓狀態的檢測動作時，可將驅動線DL1驅動至一電壓位準且將驅動線DL2驅動至另一電壓位準。按鍵SW1及按鍵SW2可在驅動線DL1被驅動至上述電壓位準時，依據其被按壓的狀態而分別通過感測線SL1、感測線SL2傳送出相應的電壓信號SV1、電壓信號SV2至比較器10、比較器20，再由比較器10、比較器20將電壓信號SV1、電壓信號SV2與參考電壓Vref進行比較以判斷出按鍵SW1、按鍵SW2的被按壓狀態。同樣地，可將驅動線DL2驅動至一電壓位準且將驅動線DL1驅動至另一電壓位準。按鍵SW3及按鍵SW4可在驅動線DL2被驅動至上述電壓位準時，依據其被按壓的狀態而通過感測線SL1、感測線SL2傳送出相應的電壓信號SV1、電壓信號SV2至比較器10、比較器20，再由比較器10、比較器20將電壓信號SV1、電壓信號SV2與參考電壓Vref進行比較以判斷出按鍵SW3、按鍵SW4的被按壓狀態。

可以理解的是，當鍵盤裝置中的按鍵的數量越多而導致鍵盤裝置中的感測線的數量增加時，將使耦接在感測在線以進行電壓比較的比較器的數量也需越多。然而，上述這些比較器會因為制程上的偏置而產生誤差，可能會對按鍵的被按壓狀態產生誤判。因此，上述的每一個比較器都必須進行校正(calibration)以取得其偏差值(offset)，如此方能精準地檢測出相對應的按鍵的被按壓狀態。由于上述的按鍵狀態的檢測方式必須儲存每一個比較器的偏差值，故會耗費較多的電路資源。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種電子裝置及其按鍵狀態的檢測方法，可將電子裝置中用以負責其他系統功能(例如溫度控制功能或電量監控功能等)且具備校正機制的轉換電路進行動態切換，以用來支持電子裝置的按鍵狀態的掃描運作。如此一來，除了可精準地判斷出按鍵的被按壓狀態，還可提高電子裝置的電路資源利用率。