[發明專利]用于靜電放電測試的檢測組件有效
| 申請號: | 201610066657.7 | 申請日: | 2016-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN107024646B | 公開(公告)日: | 2019-10-11 |
| 發明(設計)人: | 翁思淵;張晉源;黃國瑋 | 申請(專利權)人: | 致茂電子(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019 | 代理人: | 壽寧;張華輝 |
| 地址: | 215011 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 靜電 放電 測試 檢測 組件 | ||
1.一種用于靜電放電測試的檢測組件,該檢測組件連接一金屬探針對一待測物進行一靜電放電電壓的測試,其特征在于,該檢測組件包含:
一探針連接元件,包含:
一導接段,用以接收該靜電放電電壓,該導接段連接該金屬探針;以及
一絕緣段,連結于該導接段,該絕緣段由至少一絕緣材料所組成,其中該絕緣段的長度與該絕緣材料的介電強度的乘積大于該靜電放電電壓;以及
一組件本體,連結于該探針連接元件。
2.如權利要求1所述的檢測組件,其特征在于,其中,該絕緣段的長度與該靜電放電電壓成正比。
3.如權利要求1所述的檢測組件,其特征在于,其中,該探針連接元件更包含一緩沖段,該緩沖段連結于該絕緣段與該組件本體之間,該緩沖段的長度與該靜電放電電壓成反比。
4.如權利要求3所述的檢測組件,其特征在于,其中,該緩沖段是以一鎖合方式或一粘著方式連結于該絕緣段。
5.如權利要求1所述的檢測組件,其特征在于,其中,該導接段與該絕緣段的厚度相同。
6.如權利要求1所述的檢測組件,其特征在于,其中,該絕緣段是以一鎖合方式或一粘著方式連結于該導接段。
7.如權利要求1所述的檢測組件,其特征在于,其中,該探針連接元件為一連接臂。
8.如權利要求1所述的檢測組件,其特征在于,其中,該絕緣材料的介電強度大于20kv/mm。
9.如權利要求1所述的檢測組件,其中,該待測物為一發光二極體晶粒。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于致茂電子(蘇州)有限公司,未經致茂電子(蘇州)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610066657.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





