[發明專利]一種用于檢測大氣中酸性超細微粒子的方法及裝置

在審

• 申請號: 201610066384.6
• 申請日: 2016-01-29
• 公開（公告）號: CN105717010A
• 公開（公告）日: 2016-06-29
• 發明（設計）人: 郭星
• 申請（專利權）人: 武漢水天成環保科技有限公司
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06;G01N15/02
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 張凱

1.一種用于檢測大氣中酸性超細微粒子的裝置，其特征在于： 所述裝置包括采樣器和石英晶體微天平(10)，所述采樣器用于采集 帶有酸性超細微粒子的氣體，所述石英晶體微天平(10)包括帶有晶 振片(3)的探頭，所述晶振片(3)上涂覆有鐵納米膜，且所述晶振 片(3)位于采樣器內。

2.如權利要求1所述的一種用于檢測大氣中酸性超細微粒子的 裝置，其特征在于：所述鐵納米膜的厚度為15～20nm。

3.如權利要求1所述的一種用于檢測大氣中酸性超細微粒子的 裝置，其特征在于：所述石英晶體微天平(10)的靈敏度為0.02ng。

4.一種權利要求1至3中任一種用于檢測大氣中酸性超細微粒 子的裝置的制備方法，其特征在于：通過磁控濺射向鐵耙上噴濺鐵納 米膜，所述鐵耙的厚度小于1mm，所述鐵納米膜的厚度為15～20nm。

5.如權利要求4所述的一種用于檢測大氣中酸性超細微粒子的 裝置的制備方法，其特征在于：所述磁控濺射的條件為：加速電壓為 800V、磁場為300G、氣壓為8mTorr、電流密度為40mA/cm、沉淀 速率為100nm/min。

6.一種采用權利要求1至3中任一項所述裝置檢測大氣中酸性 超細微粒子的方法，包括以下步驟：

S1、向采樣器的進氣端通入帶有酸性超細微粒子的氣體，所述晶 振片(3)的鐵納米膜上沉積帶有酸性超細微粒子的微粒子并形成細 微粒子膜；

S2、石英晶體微天平(10)實時稱量鐵納米膜表面沉積的微粒子 重量，并記錄通氣完成后的吸附重量為G1；

S3、使用惰性氣體吹洗帶有微粒子的鐵納米膜至非酸性超細微粒 子脫落，得到僅帶有酸性超細微粒子的鐵納米膜并稱量，記錄重量為 G2，G2為晶振片(3)上吸附的酸性超細微粒子的重量。

7.如權利要求6所述的一種檢測大氣中酸性超細微粒子的方法， 其特征在于：所述步驟S1中向裝置中通入帶有酸性超細微粒子氣體 的時間為4h，氣體流速為0.03Lmin^-1。

8.如權利要求6所述的一種檢測大氣中酸性超細微粒子的方法， 其特征在于：所述步驟S2和步驟S3之間還包括以下步驟：將帶有微 粒子的鐵納米膜放置至少12h至酸性超細微粒子與鐵納米膜緊密結 合。

9.如權利要求6所述的一種檢測大氣中酸性超細微粒子的方法， 其特征在于：所述步驟S3中使用惰性氣體吹洗，所述惰性氣體的流 速為5～40m/s，吹洗時間為5s。

10.如權利要求9所述的一種檢測大氣中酸性超細微粒子的方法， 其特征在于：所述步驟S3中使用惰性氣體吹洗，所述惰性氣體的流 速為15m/s。