[發(fā)明專利]芯片異常檢測(cè)方法和裝置及電路面板異常檢測(cè)方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610066180.2
• 申請(qǐng)日: 2016-01-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105740118B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-03-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 袁森;郭方正;張箭
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 硅谷數(shù)模半導(dǎo)體(北京)有限公司;硅谷數(shù)模國(guó)際有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/267
• 分類號(hào): G06F11/267
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司11240
• 代理人: 韓建偉,張永明

1.一種芯片異常檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

利用待檢測(cè)芯片內(nèi)控制器中的預(yù)設(shè)應(yīng)用程序獲取所述待檢測(cè)芯片內(nèi)至少一個(gè)寄存器中存儲(chǔ)的狀態(tài)信息；

利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述狀態(tài)信息是否異常；以及

在所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)到所述狀態(tài)信息異常時(shí)，確定所述待檢測(cè)芯片異常；

其中，所述狀態(tài)信息包括：所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)和視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量，利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述狀態(tài)信息是否異常包括：

利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)是否異常；和/或

利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量是否超過(guò)預(yù)設(shè)閾值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)到所述狀態(tài)信息異常時(shí)，確定所述待檢測(cè)芯片異常包括：

在所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)到所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)異常時(shí)，確定所述待檢測(cè)芯片異常；和/或

在所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)到所述視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量超過(guò)所述預(yù)設(shè)閾值時(shí)，確定所述待檢測(cè)芯片異常。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在確定所述待檢測(cè)芯片異常之后，所述方法還包括：

通過(guò)復(fù)位或者清除錯(cuò)誤數(shù)據(jù)方式消除所述待檢測(cè)芯片的異常。

4.一種電路面板異常檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

確定電路面板中的待檢測(cè)芯片，其中，所述待檢測(cè)芯片為所述電路面板中具有寄存器和控制器的芯片；

利用所述待檢測(cè)芯片內(nèi)所述控制器中的預(yù)設(shè)應(yīng)用程序獲取所述待檢測(cè)芯片內(nèi)至少一個(gè)所述寄存器中存儲(chǔ)的狀態(tài)信息；

利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述狀態(tài)信息是否異常；以及

在所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)到所述狀態(tài)信息異常時(shí)，確定所述待檢測(cè)芯片和所述電路面板異常；

其中，所述狀態(tài)信息包括：所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)和視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量，利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述狀態(tài)信息是否異常包括：

利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)是否異常；和/或

利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量是否超過(guò)預(yù)設(shè)閾值。

5.一種芯片異常檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于利用待檢測(cè)芯片內(nèi)控制器中的預(yù)設(shè)應(yīng)用程序獲取所述待檢測(cè)芯片內(nèi)至少一個(gè)寄存器中存儲(chǔ)的狀態(tài)信息；

檢測(cè)模塊，用于利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述狀態(tài)信息是否異常；以及

確定模塊，用于在所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)到所述狀態(tài)信息異常時(shí)，確定所述待檢測(cè)芯片異常；

其中，所述狀態(tài)信息包括：所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)和視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量，所述檢測(cè)模塊包括：

第一子檢測(cè)模塊，用于利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)是否異常；和/或

第二子檢測(cè)模塊，用于利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量是否超過(guò)預(yù)設(shè)閾值。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述確定模塊包括：

第一子確定模塊，用于在所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)到所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)異常時(shí)，確定所述待檢測(cè)芯片異常；和/或

第二子確定模塊，用于在所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)到所述視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量超過(guò)所述預(yù)設(shè)閾值時(shí)，確定所述待檢測(cè)芯片異常。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

消除模塊，用于在確定所述待檢測(cè)芯片異常之后，通過(guò)復(fù)位或者清除錯(cuò)誤數(shù)據(jù)方式消除所述待檢測(cè)芯片的異常。

8.一種電路面板異常檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

第一確定模塊，用于確定電路面板中的待檢測(cè)芯片，其中，所述待檢測(cè)芯片為所述電路面板中具有寄存器和控制器的芯片；

獲取模塊，用于利用所述待檢測(cè)芯片內(nèi)所述控制器中的預(yù)設(shè)應(yīng)用程序獲取所述待檢測(cè)芯片內(nèi)至少一個(gè)所述寄存器中存儲(chǔ)的狀態(tài)信息；

檢測(cè)模塊，用于利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述狀態(tài)信息是否異常；以及

第二確定模塊，用于在所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)到所述狀態(tài)信息異常時(shí)，確定所述待檢測(cè)芯片和所述電路面板異常；

其中，所述狀態(tài)信息包括：所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)和視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量，所述檢測(cè)模塊包括：

第一子檢測(cè)模塊，用于利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述待檢測(cè)芯片的工作狀態(tài)是否異常；和/或

第二子檢測(cè)模塊，用于利用所述預(yù)設(shè)應(yīng)用程序檢測(cè)所述視頻數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)數(shù)量是否超過(guò)預(yù)設(shè)閾值。