[發(fā)明專利]一種基于AEKF的電池荷電狀態(tài)估計(jì)方法及估計(jì)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610064341.4 | 申請(qǐng)日: | 2016-01-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105738817A | 公開(公告)日: | 2016-07-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孔滿;關(guān)海盈 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市沃特瑪電池有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/36 | 分類號(hào): | G01R31/36;H03H17/02 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 王利彬 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 aekf 電池 狀態(tài) 估計(jì) 方法 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電池電氣測(cè)試技術(shù),尤其涉及一種基于AEKF的電池荷電狀態(tài)估計(jì)方法及估計(jì)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
目前,電池的剩余電量(StateofCharge,SOC)估計(jì)方法主要分為兩大類:直接法與間接法。直接法是指通過(guò)實(shí)驗(yàn)設(shè)備直接測(cè)量電池的剩余電量;間接法主要通過(guò)電池內(nèi)部的物化特性,在估計(jì)過(guò)程中需要高精度的設(shè)備,因此在實(shí)際中很難實(shí)現(xiàn)。安時(shí)積分法、開路電壓法、內(nèi)阻法等屬于間接法,安時(shí)積分法在計(jì)算過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生累積誤差,導(dǎo)致計(jì)算得到的SOC隨充放電時(shí)間的增加誤差增大,同時(shí)安時(shí)積分法計(jì)算SOC初始值的準(zhǔn)確性很難確定;開路電壓法需要長(zhǎng)時(shí)間的靜置使電池內(nèi)部電壓穩(wěn)定,在監(jiān)測(cè)汽車運(yùn)行過(guò)程中的電池剩余電量時(shí)難以實(shí)現(xiàn);內(nèi)阻法存在著估算內(nèi)阻的困難,在硬件上也難以實(shí)現(xiàn)。此外,還可通過(guò)人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法、卡爾曼濾波算法等間接法估算電池SOC,但神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法和卡爾曼濾波算法由于其系統(tǒng)設(shè)置困難,且在電池管理系統(tǒng)中應(yīng)用成本高,不具備優(yōu)勢(shì)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是,針對(duì)不同方法的優(yōu)劣及適用性,提供一種基于AEKF的電池荷電狀態(tài)估計(jì)方法及估計(jì)系統(tǒng),以提高估計(jì)的電池SOC的準(zhǔn)確性。本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的:
一種基于AEKF的電池荷電狀態(tài)估計(jì)方法,包括如下步驟:
步驟1:初始化t0時(shí)刻的x0、P0、Q0、R0,然后進(jìn)入步驟2;其中x0為電池荷電狀態(tài)初始值,P0為誤差協(xié)方差初始值,Q0為過(guò)程噪聲初始值,R0為觀測(cè)噪聲初始值;
步驟2:預(yù)估k時(shí)刻的電池荷電狀態(tài)及k時(shí)刻的狀態(tài)先驗(yàn)估計(jì)誤差協(xié)方差然后進(jìn)入步驟3;其中:
其中,A為一個(gè)采樣間隔內(nèi)的傳遞矩陣,為k-1時(shí)刻的電池荷電狀態(tài)的后驗(yàn)估計(jì)值,B為輸入矩陣,uk-1為k-1時(shí)刻系統(tǒng)的輸入量,noisek-1為k-1時(shí)刻加入的白噪聲;
其中,Pk-1為k-1時(shí)刻的狀態(tài)估計(jì)后驗(yàn)誤差協(xié)方差,AT為傳遞矩陣A的轉(zhuǎn)置矩陣,Qk-1為k-1時(shí)刻的過(guò)程噪聲;
步驟3:更新k時(shí)刻的實(shí)際電壓信號(hào)與模型電壓信號(hào)之間的差值ek和卡爾曼濾波增益Hk,然后進(jìn)入步驟4;其中:
其中,yk為k時(shí)刻采集到的電池的實(shí)際電壓信號(hào),為k時(shí)刻的電池模型的模型電壓信號(hào),為k時(shí)刻的電池荷電狀態(tài)先驗(yàn)估計(jì)值;
其中,Hk為k時(shí)刻的卡爾曼濾波增益矩陣,Rk為k時(shí)刻的觀測(cè)噪聲,C為輸出矩陣,CT為輸出矩陣C的轉(zhuǎn)置;
步驟4:更新基于遺忘因子的加權(quán)系數(shù),然后進(jìn)入步驟5;dk-1=(1-b)(1-bk)-1,其中,b為遺忘因子,d為基于遺忘因子的加權(quán)系數(shù),dk-1為k-1時(shí)刻的基于遺忘因子的加權(quán)系數(shù)值;
步驟5:更新過(guò)程噪聲Qk和觀測(cè)噪聲Rk,然后進(jìn)入步驟6:
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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