[發明專利]一種分析檢測磁介質磁力捕獲磁性顆粒特征的方法

有效

• 申請號: 201610061835.7
• 申請日: 2016-01-29
• 公開（公告）號: CN105701309B
• 公開（公告）日: 2018-11-27
• 發明（設計）人: 陳祿政;劉文博;鄭永明;肖慶飛;邵延海;游志程
• 申請（專利權）人: 昆明理工大學
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種分析檢測磁介質磁力捕獲磁性顆粒特征的方法，其特征在于具體步驟如下：

（1）由介質絲組成若干單元介質模塊制備得到任意可拆卸式磁介質，可拆卸式磁介質排列組合模式根據實際情況或要求確定；

（2）將步驟（1）得到的任意可拆卸式磁介質放入高梯度磁選機的分選腔內，在確定的操作條件下完成高梯度磁選過程；

（3）步驟（2）高梯度磁選過程完成后，停止給料并保持磁場和流場，降低液位使分選腔內分選區的磁介質從流體中慢慢露出，同時向磁介質通入-10～-5℃冷氣，將暴露的介質絲表面積聚的磁性顆粒快速冷卻固定，當磁介質全部露出并被完全冷卻后，去除磁場，取出磁介質，在-5～0℃低溫環境下拆除單元介質模塊，得到介質單絲，并置于保冷設備中；

（4）將步驟（3）得到的介質單絲進行分析檢測，獲得磁介質磁力捕獲的真實特征。

2.根據權利要求1所述的分析檢測磁介質磁力捕獲磁性顆粒特征的方法，其特征在于：所述步驟（4）中分析檢測方法為采用顯微鏡、掃描電鏡、化學分析、產率計算和品位分析。