[發明專利]一種接觸鏡后頂焦度測量儀器的校準方法

有效

• 申請號: 201610060476.3
• 申請日: 2016-01-29
• 公開（公告）號: CN105571836B
• 公開（公告）日: 2019-02-22
• 發明（設計）人: 張吉焱;劉文麗;洪寶玉;馬振亞;王莉茹
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種接觸鏡后頂焦度測量儀器的校準方法，其特征在于：設計并研制一種用于檢驗接觸鏡頂焦度測量儀器的校驗鏡片，將校驗鏡片或置于鏡座內的校驗鏡片放入待測儀器的測量光路中，調整測量位置進行測量；將得到的測量值與校驗鏡片的后頂焦度實際值進行比較，能夠得到該儀器在該測量點上的后頂焦度示值誤差；

所述校驗鏡片具有不同后頂焦度，包括：凸透鏡校驗鏡片、凹透鏡校驗鏡片和鏡座；所述的凸透鏡校驗鏡片和凹透鏡校驗鏡片，為圓形透鏡，前表面和后表面均為球面且精密拋光，后表面曲率半徑相同，接近于人眼角膜前表面曲率半徑8mm；所述的凸透鏡校驗鏡片，包括+5m^-1、+10m^-1、+15m^-1和+20m^-1四片凸透鏡，結構形狀模擬實際的接觸鏡片，后表面曲率半徑相同，前表面曲率半徑不同，中心厚度不同；所述的凹透鏡校驗鏡片，包括-5m^-1、-10m^-1、-15m^-1和-20m^-1四片凹透鏡，結構形狀模擬實際的接觸鏡片，后表面曲率半徑相同，前表面曲率半徑不同，中心厚度不同。

2.如權利要求1所述的一種接觸鏡后頂焦度測量儀器的校準方法，其特征在于：當在溶液中對哈特曼光闌法和莫爾條紋法的測量儀器進行后頂焦度示值誤差檢驗時，分別使用凸透鏡校驗鏡片和凹透鏡校驗鏡片；首先將凹透鏡校驗鏡片或凸透鏡校驗鏡片后表面朝下放入測量儀器的V型槽內，V型槽內充入符合要求的標準鹽溶液，然后將放有凹透鏡校驗鏡片或凸透鏡校驗鏡片的V型槽放到儀器的測量光路中，在儀器測量軟件內輸入相應的測量參數，調整測量位置并選定測量區域，即可進行測量；將得到的測量值與凹透鏡校驗鏡片或凸透鏡校驗鏡片的后頂焦度實際值進行比較，即可得到該儀器在該測量點上的后頂焦度示值誤差；

當在空氣中對哈特曼光闌法和莫爾條紋法的測量儀器進行后頂焦度示值誤差檢驗時，分別使用凸透鏡校驗鏡片和凹透鏡校驗鏡片；首先將凹透鏡校驗鏡片或凸透鏡校驗鏡片后表面朝下放入測量儀器的V型槽內，然后將放有凹透鏡校驗鏡片或凸透鏡校驗鏡片的V型槽放到儀器的測量光路中，在儀器測量軟件內輸入相應的測量參數，調整測量位置并選定測量區域，即可進行測量；將得到的測量值與凹透鏡校驗鏡片或凸透鏡校驗鏡片的后頂焦度實際值進行比較，即可得到該儀器在該測量點上的后頂焦度示值誤差；

當在空氣中對焦度計進行后頂焦度示值誤差檢驗時，需將凸透鏡校驗鏡片和凹透鏡校驗鏡片與鏡座配合使用，以便于操作測量及定位調整；首先將凹透鏡校驗鏡片或凸透鏡校驗鏡片后表面朝向較小孔徑端放入鏡筒第二階梯的圓形通孔內，然后在校驗鏡片的前表面放置墊圈，最后再用帶有外螺紋的壓圈固定；將裝配好的凹透鏡校驗鏡片或凸透鏡校驗鏡片的后表面朝下放置在焦度計的接觸鏡測量支座上，通過調整校驗鏡片的位置，保證測量目標位于視場中央，最后進行調焦測量；將得到的測量值與凹透鏡校驗鏡片或凸透鏡校驗鏡片的后頂焦度實際值進行比較，即可得到該儀器在該測量點上的后頂焦度示值誤差。

3.如權利要求1所述的一種接觸鏡后頂焦度測量儀器的校準方法，其特征在于：所述的鏡座，包括鏡筒、墊圈和壓圈；其中鏡筒外形為圓形，內有臺階狀圓形通孔，按照通孔直徑由小到大分為三個階梯，分別為第一階梯、第二階梯和第三階梯；第二階梯的直徑與校驗鏡片的外徑相同；墊圈外形為圓形，內為圓形通孔，通孔一端為平面，另一端為開有120°角的斜面；所述壓圈為帶有外螺紋的圓環；所述的凸透鏡校驗鏡片或凹透鏡校驗鏡片位于鏡筒第二階梯的圓形通孔內，在凸透鏡校驗鏡片或凹透鏡校驗鏡片的前表面放上墊圈，再用帶有外螺紋的壓圈固定。

4.如權利要求1中任意一項所述的一種接觸鏡后頂焦度測量儀器的校準方法，其特征在于：所述的凸透鏡校驗鏡片和凹透鏡校驗鏡片，材料為無色冕牌光學玻璃。

5.如權利要求3中任意一項所述的一種接觸鏡后頂焦度測量儀器的校準方法，其特征在于：所述第三階梯的側壁上設有內螺紋，用于與壓圈的外螺紋配合。

6.如權利要求5中任意一項所述的一種接觸鏡后頂焦度測量儀器的校準方法，其特征在于：所述第三階梯與第二階梯交匯處開有退刀槽。

7.如權利要求3中任意一項所述的一種接觸鏡后頂焦度測量儀器的校準方法，其特征在于：所述壓圈上開有凹槽，便于壓圈與鏡筒的固定。