[發明專利]圈閉地質資源量確定方法及裝置

在審

• 申請號: 201610059924.8
• 申請日: 2016-01-28
• 公開（公告）號: CN107015289A
• 公開（公告）日: 2017-08-04
• 發明（設計）人: 楊雙;閆相賓;高山林;蔡利學;馬曉娟;李娜
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G01V9/00
• 分類號: G01V9/00
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司11372
• 代理人: 張文娟,朱繪

1.一種圈閉地質資源量確定方法，其特征在于，包括：

獲取圈閉有效體積和單儲系數；

根據圈閉有效體積和單儲系數，計算獲得圈閉地質資源量，其中，圈閉地質資源量為圈閉有效體積和單儲系數的乘積；

其中，獲取圈閉有效體積，具體包括：

獲取多組頂深數據對和多組底深數據對；其中，所述頂深數據對為儲層頂面面積值和對應的儲層頂面深度值，所述底深數據對為儲層底面面積值和對應的儲層底面深度值；

在面積深度圖中繪制頂深數據點和底深數據點，其中，所述頂深數據點為以頂深數據對中的儲層頂面面積值為橫坐標、儲層頂面深度值為縱坐標的點，所述底深數據點為以底深數據對中的儲層底面面積值為橫坐標、儲層底面深度值為縱坐標的點，面積深度圖為以儲層頂面面積值或儲層底面面積值為橫坐標、儲層頂面深度值或儲層底面深度值為縱坐標的直角坐標系；

將各頂深數據點連線形成儲層頂界，將各底深數據點連線形成儲層底界；

獲取油界面深度，并根據油界面深度在面積深度圖中繪制油界面深度線，所述油界面深度線為縱坐標為油界面深度的直線；

通過儲層頂界、儲層底界、油界面深度線和縱坐標軸圍成多邊形，所述多邊形面積為圈閉總體積；

根據測井曲線獲得儲層凈毛比；

根據圈閉總體積和儲層凈毛比計算獲得圈閉有效體積，其中，圈閉有效體積為圈閉總體積與儲層凈毛比的乘積。

2.根據權利要求1所述的圈閉地質資源量確定方法，其特征在于，根據地質資料獲取單儲系數，具體包括：

根據單儲系數公式SNF＝100×φ×(1-S_w)×ρ_oi/β_oi計算獲得單儲系數，其中，φ為孔隙度，S_w為含水飽和度，ρ_oi為原油密度，β_oi原始原油體積系數。

3.根據權利要求1所述的圈閉地質資源量確定方法，其特征在于，頂深數據對和底深數據對的個數均至少為5個。

4.根據權利要求1所述的圈閉地質資源量確定方法，其特征在于，頂深數據對和底深數據對的個數均為10個。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的圈閉地質資源量確定方法，其特征在于，在獲取圈閉有效體積之后，所述方法還包括，

獲取圈閉面積和含油面積系數；

根據圈閉面積和含油面積系數計算獲得圈閉含油面積，其中，圈閉含油面積為圈閉面積和含油面積系數的乘積；

根據圈閉有效體積和圈閉含油面積計算，獲得油層平均有效厚度，其中，油層平均有效厚度為圈閉有效體積與圈閉含油面積之商。

6.一種圈閉地質資源量確定裝置，其特征在于，包括：

圈閉有效體積獲取模塊，用于獲取圈閉有效體積，其具體包括圈閉總體積獲取模塊、儲層凈毛比獲取模塊和圈閉有效體積計算模塊；其中，

所述圈閉總體積獲取模塊包括：

數據獲取子模塊，用于獲取多組頂深數據對和多組底深數據對；其中，所述頂深數據對為儲層頂面面積值和對應的儲層頂面深度值，所述底深數據對為儲層底面面積值和對應的儲層底面深度值；

數據點繪制子模塊，用于在面積深度圖中繪制頂深數據點和底深數據點，其中，所述頂深數據點為以頂深數據對中的儲層頂面面積值為橫坐標、儲層頂面深度值為縱坐標的點，所述底深數據點為以底深數據對中的儲層底面面積值為橫坐標、儲層底面深度值為縱坐標的點，面積深度圖為以儲層頂面面積值或儲層底面面積值為橫坐標、儲層頂面深度值或儲層底面深度值為縱坐標的直角坐標系；

第一邊界獲取子模塊，用于將各頂深數據點連線形成儲層頂界，以及用于將各底深數據點連線形成儲層底界；

第二邊界獲取子模塊，用于獲取油界面深度，并根據油界面深度在面積深度圖中繪制油界面深度線，所述油界面深度線為縱坐標為油界面深度的直線；

圈閉總體積計算子模塊，用于將儲層頂界、儲層底界、油界面深度線和縱坐標軸圍成多邊形，所述多邊形面積為圈閉總體積；

所述儲層凈毛比獲取模塊，用于根據測井曲線獲得儲層凈毛比；

所述圈閉有效體積計算模塊，用于根據圈閉總體積和儲層凈毛比計算獲得圈閉有效體積，其中，圈閉有效體積為圈閉總體積與儲層凈毛比的乘積；

單儲系數獲取模塊，用于獲取單儲系數；

圈閉地質資源量獲取模塊，用于根據圈閉有效體積和單儲系數，計算獲得圈閉地質資源量，其中，圈閉地質資源量為圈閉有效體積和單儲系數的乘積。