[發明專利]一種在介質環境中直接測量試樣應變的方法

有效

• 申請號: 201610058721.7
• 申請日: 2016-01-28
• 公開（公告）號: CN105674944B
• 公開（公告）日: 2018-04-20
• 發明（設計）人: 鐘巍華;佟振峰;寧廣勝;魚濱濤
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G01B21/32
• 分類號: G01B21/32
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，包括：

步驟a，對樣品進行重新設計，在原樣品的基礎上，在需要測量部位兩端增加兩個凸臺；

步驟b，測量兩個所述凸臺之間的間距，并將所述樣品固定在牽引裝置上；

步驟c，將引導卡具的一端卡接固定在所述凸臺上，另一端固定剛性的引導桿，并使所述引導桿與所述樣品平行，將所述引導桿插入位移傳感器中，且插入部分在所述位移傳感器的測量范圍內；

步驟d，將所述樣品置于介質環境中，啟動所述牽引裝置對所述樣品進行牽引，記錄所述位移傳感器的測量值；

步驟e，計算所述樣品的應變絕對值，并根據所述樣品被拉伸或被壓縮，確定應變值為正值或負值。

2.根據權利要求1所述的在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，所述步驟a中，所述在需要測量部位的兩端增加凸臺，為對所述樣品進行加工時，直接在所述樣品需要測量部位的兩端加工出兩個所述凸臺。

3.根據權利要求1所述的在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，兩個所述凸臺與所述樣品是分體的。

4.根據權利要求1-3中任一所述的在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，所述步驟b中，兩個所述凸臺之間的間距，為一個所述凸臺的內側端面與另一個所述凸臺的外側端面之間的距離。

5.根據權利要求1-3中任一所述的在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，所述步驟c中，所述位移傳感器為LVDT位移傳感器。

6.根據權利要求1-3中任一所述的在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，所述引導卡具、所述引導桿和所述位移傳感器均有兩個，分別對應兩個所述凸臺。

7.根據權利要求6所述的在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，所述步驟d中，所述位移傳感器的測量值，為一個所述位移傳感器在所述樣品被牽引前的讀數do₁、在所述樣品被牽引后的讀數do₂，以及另一個所述位移傳感器在所述樣品被牽引前的讀數dt₁、在所述樣品被牽引后的讀數dt₂。

8.根據權利要求7所述的在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，所述步驟e中，所述應變絕對值的計算公式為：

s=|(do2-do1)-(dt2-dt1)|l×100%]]>

式中，s為所述樣品的應變絕對值，do₁、do₂分別為一個位移傳感器在樣品被牽引前、被牽引后的讀數；dt₁、dt₂分別為另一個位移傳感器在樣品被牽引前、被牽引后的讀數；l為兩所述凸臺之間的間距。

9.根據權利要求6所述的在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，所述步驟d中，在所述牽引裝置對所述樣品進行牽引前，將兩個所述位移傳感器的讀數校準為相同值，并分別記錄兩個所述位移傳感器在所述樣品被牽引后的讀數do、dt。

10.根據權利要求9所述的在介質環境中直接測量試樣應變的方法，其特征在于，所述步驟e中，所述應變絕對值的計算公式為：

s=|do-dt|l×100%]]>

式中，s為所述樣品的應變絕對值，do、dt分別為兩個位移傳感器在樣品被牽引后的讀數；l為兩所述凸臺之間的間距。