[發(fā)明專利]一種雙芯光子晶體光纖SRP折射率傳感模型有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610057845.3 | 申請日: | 2016-01-28 |
| 公開(公告)號: | CN105572078B | 公開(公告)日: | 2018-04-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉云鳳;劉彬;何興道 | 申請(專利權(quán))人: | 南昌航空大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/55 | 分類號: | G01N21/55;G02B6/02 |
| 代理公司: | 南昌市平凡知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所36122 | 代理人: | 張文杰 |
| 地址: | 330063 江*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光子 晶體 光纖 srp 折射率 傳感 模型 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光子晶體光纖傳感領(lǐng)域,尤其是涉及到光纖SPR傳感技術(shù),具
體說是一種雙芯光子晶體光纖SPR折射率傳感模型。
背景技術(shù)
表面等離子體共振(SPR)行為是一種物理光學(xué)現(xiàn)象,表述了金屬或者參雜半導(dǎo)體中表面等離子體(SPP)的共振現(xiàn)象,具有對附著在金屬表面電介質(zhì)的折射率變化非常敏感的特性,具有實(shí)時(shí)和快速檢測、無須標(biāo)記、耗樣量少等特點(diǎn),因此在化學(xué)、生物、環(huán)境及醫(yī)藥等領(lǐng)域具有非常廣闊的應(yīng)用前景,成為近年來研究光學(xué)探測傳感技術(shù)新領(lǐng)域。
光纖SPR傳感領(lǐng)域隨著光子晶體光纖(PCF)的出現(xiàn),其優(yōu)良特性如無截止單模特性、高雙折射、可控色散、高非線性、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)靈活可控等,受到了研究人員的廣泛關(guān)注,在SPR傳感領(lǐng)展現(xiàn)出了巨大的潛在應(yīng)用價(jià)值。
國家專利局于2012年7月以公開號為CN 102590148 A公開了“一種易于實(shí)現(xiàn)相位匹配的光子晶體光纖SPR傳感模型”的發(fā)明專利申請。該發(fā)明專利申請采用纖芯包層結(jié)構(gòu),材料為石英玻璃,纖芯中心設(shè)有纖芯空氣孔,包層中設(shè)有六個(gè)呈正六邊形排列的包層空氣孔,其中兩個(gè)位置中心對稱的包層空氣孔內(nèi)表面鍍有金膜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)模地,較好地解決了傳統(tǒng)光纖中纖芯與SPP模式相位匹配問題。但是,在實(shí)際運(yùn)用中,該光子晶體光纖基礎(chǔ)纖芯模式與高階SPP模式耦合會引起多個(gè)共振峰,由于高階SPP模式的干擾,在實(shí)際測量中需要先進(jìn)行模式辨別,找出所需測量共振峰再得出折射率,對于介質(zhì)折射率變化的傳感,這不僅使的傳感過程較復(fù)雜還降低了傳感效率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是,針對上述現(xiàn)有技術(shù)存在的不足或缺陷,提供一種雙芯光子晶體光纖SPR折射率傳感模型。該模型采用雙芯和橢圓檢測孔結(jié)構(gòu),有效地解決了高階SPP模式對測量共振峰的影響,并且具有高線性傳感和高靈敏度的特性。
本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:
一種雙芯光子晶體光纖SPR折射率傳感模型,其橫截面為圓形,包括基底、纖芯和包層空氣孔,纖芯周圍為包層空氣孔,其特征在于,所述的纖芯設(shè)置為右側(cè)纖芯和左側(cè)纖芯;所述的右側(cè)纖芯為實(shí)心基底材料;所述的左側(cè)纖芯包括銀膜、檢測孔。
基底和右側(cè)纖芯的材料為二氧化硅,其折射率為1.45。
包層空氣孔以正六邊形周期排列,包層空氣孔相鄰間距為2um,包層空氣孔直徑為1um。
檢測孔為橢圓形,檢測孔長軸為1.6um,短軸尺寸為1.18um,檢測孔用于放置待測溶液。
所述銀膜厚度為40nm。
采用以上結(jié)構(gòu)后,與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是:采用雙芯和橢圓檢測孔SPR折射率傳感結(jié)構(gòu),在一定折射率范圍內(nèi)過濾高階SPP模式,確定傳感共振波峰不需要模式辨別,可以達(dá)到高線性和高靈敏度傳感,對于折射率動態(tài)變化的溶液可實(shí)時(shí)監(jiān)測,大大提高傳感效率。
附圖說明
圖1是本發(fā)明一種雙芯光子晶體光纖SPR折射率傳感模型內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明一種雙芯光子晶體光纖SPR折射率傳感模型傳感特性曲線;
圖3是待測溶液折射率為1.45時(shí)在900nm-1800nm波段出現(xiàn)的各SPP模式與右側(cè)纖芯模式色散曲線;
圖4是待測溶液折射率為1.50時(shí)在900nm-1800nm波段出現(xiàn)的各SPP模式與右側(cè)纖芯模式色散曲線;
圖中:1.基底,2.包層空氣孔,3.右側(cè)纖芯,4.左側(cè)纖芯,5.銀膜,6.檢測孔。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步說明:
一種雙芯光子晶體光纖SPR折射率傳感模型,其橫截面為圓形,包括基底1、纖芯和包層空氣孔2,纖芯周圍為包層空氣孔2,其特征在于,所述的纖芯設(shè)置為右側(cè)纖芯3和左側(cè)纖芯4;所述的右側(cè)纖芯3為實(shí)心基底材料;所述的左側(cè)纖芯4包括銀膜5、檢測孔6。
所述基底1和右側(cè)纖芯3的材料為二氧化硅,其折射率為1.45。
所述包層空氣孔2以正六邊形周期排列,相鄰間距為2um,包層空氣孔2直徑為1um。
所述檢測孔6為橢圓形,檢測孔6長軸為1.6um,短軸尺寸為1.18um,檢測孔6用于放置待測溶液。
所述銀膜5厚度為40nm。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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