[發明專利]一種熒光免疫層析讀數儀量程調節的方法

有效

• 申請號: 201610057731.9
• 申請日: 2016-01-28
• 公開（公告）號: CN105699347B
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發明（設計）人: 高躍明;杜民;陳建國;韋孟宇;潘少恒;林傳陽;黃弘舟
• 申請（專利權）人: 福州大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N33/558
• 代理公司: 福州元創專利商標代理有限公司 35100
• 代理人: 蔡學俊

1.一種熒光免疫層析讀數儀量程調節的方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟S1：提供一試條采集模塊，所述試條采集模塊包括一光電探測器與一調理電路；一激發光光源激發熒光免疫層析試條產生熒光信號并由所述光電探測器接收采集轉換為電信號，所述光電探測器將所述電信號傳輸至所述調理電路進行放大濾波處理；

步驟S2：所述調理電路的輸出端與一主控制模塊相連，所述主控制模塊接收經過放大濾波處理的電信號，根據所述電信號提取所述試條的熒光特征量，判斷其幅值特性；

步驟S3：提供一可調恒流源電路，所述可調恒流源電路包括一數字電位器與一恒流源，所述主控制模塊與所述數字電位器的輸入端相連，根據所述試條的熒光特征量幅值對所述數字電位器進行反饋調節；

步驟S4：所述數字電位器的輸出端與所述恒流源相連，用以實時調整所述恒流源輸出的電流大小，所述恒流源輸出的電流輸入所述激發光光源，用以實現對儀器檢測量程的調檔；

所述主控制模塊根據所述試條的熒光特征量幅值大小對所述數字電位器進行反饋調節進而控制所述激發光光源的驅動電流，具體根據以下公式實現：

所述熒光信號發出的發射光強度與激發光強度的關系為：

I_f＝2.3Y_FI₀εcl (1)

其中，I_f為熒光發射光強度；I₀為激發光強度；Y_F為物質的熒光效率；ε為物質摩爾吸收系數；l為透過樣品的光程；c為待測樣品的濃度；由公式(1)可得，當透過樣品的光程l不變，對于同一物質的熒光發射光強度與激發光強度成線性關系；

則所述激發光光源的驅動電流與對應的光強成線性關系，滿足：

I₀＝αi (2)

其中，公式(2)中I₀激發光強度，i為光源的驅動電流，α為兩者的比例系數；

則試條待測物質濃度與熒光發射光強度關系為：

其中，公式(3)中F_s為標準試條熒光發射光強度，F_x為待測試條熒光發射光強度，C_x為待測試條濃度，即待測試條熒光特征量，C_s為標準試條濃度，即標準試條熒光特征量；且標準試條熒光強度F_s與標準試條濃度C_s均為常量，由此公式(3)可以變換為：

F_x＝βC_x (4)

其中，公式(4)中F_x為待測試條的熒光發射光強度，C_x為待測試條濃度；并且F_x＝I_f，結合公式(1)-(4)有：

βC_x＝2.3Y_Fαiεcl (5)

由公式(5)，若待測試條樣品濃度c以及照射到試條的光程l恒定時有：

C_x＝mi

即儀器提取的試條熒光特征量C_x與激發光光源的驅動電流i成線性關系。

2.根據權利要求1所述的一種熒光免疫層析讀數儀量程調節的方法，其特征在于：若所述主控制模塊判斷熒光特征量幅值偏高，超出儀器檢測量程，則通過反饋調節所述數字電位器以調低所述恒流源輸出的驅動電流，降低儀器檢測靈敏度，使儀器檢測量程調高；若所述主控制模塊判斷熒光特征量幅值過低，無法充分利用儀器檢測量程或者低于儀器檢測靈敏度，則通過反饋調節所述數字電位器以調高所述恒流源輸出的驅動電流，提高儀器檢測靈敏度，使儀器檢測量程調低。

3.根據權利要求1所述的一種熒光免疫層析讀數儀量程調節的方法，其特征在于：所述主控制模塊為一CPU微處理器。

4.根據權利要求1所述的一種熒光免疫層析讀數儀量程調節的方法，其特征在于：所述主控制模塊還連接有一液晶顯示屏，用以顯示所述熒光免疫層析試條的檢測結果。