[發明專利]獲取液晶顯示屏最佳FLK值的調試方法及裝置

有效

• 申請號: 201610055589.4
• 申請日: 2016-01-27
• 公開（公告）號: CN105589226B
• 公開（公告）日: 2018-12-11
• 發明（設計）人: 賀建文
• 申請（專利權）人: 江西聯星顯示創新體有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G09G3/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 何世磊

本發明提供一種獲取液晶顯示屏最佳FLK值的調試方法及裝置，通過先設定VCOM電壓范圍V₀～V₁，VCOM參考值V_R，采用色彩分析儀獲取在V_R下對應液晶顯示屏的FLK參考值F_R，再以設定程序自動獲取對應當前值V_C條件下的FLK當前值F_C，將當前值F_C逐一與參考值F_R進行對比以獲取FLK的最小值F_min，所以調節的一致性較好，速度更快，提高了液晶顯示屏的檢測效率。

技術領域

本發明涉及液晶顯示屏檢測技術領域，特別涉及一種獲取液晶顯示屏最佳FLK值的調試方法及裝置。

背景技術

LCM即LCD顯示模組，是指將LCD(液晶顯示屏)，連接件，控制與驅動等外圍電路，PCB電路板，背光源，結構件等裝配在一起的組件。由于LCD中的FLK值(Flicker)直接影響后期LCM的畫面顯示的閃爍情形，FLK值越小，閃爍度就越小，LCD顯示效果就更好，此外，現在更多的手機生產公司也希望顯示屏的FLK值盡可能的小以獲得更好的顯示效果，所以在進行組裝之前需對LCD的FLK值進行檢測與調試，以篩選出質量好的LCD。

目前，大多LCD生產廠商為追求性價比，通常都是采用分別與LCD相連接的主控單元與亮度采集單元對LCD進行燒入OTP的方式來獲取較佳的FLK值，提升LCD的生產良率。

上述現有技術中獲取LCD最佳FLK值的調試方法，雖然具有一定的效果，但是對LCD過多燒入OTP的同時也會影響LCD的顯示效果，且燒入OTP后的LCD一致性不好，VCOM需求電壓范圍也越來越大，此外，增加了人工與調試成本，降低生產效率，導致LCD的調試速度慢。

發明內容

基于此，本發明的目的是提供一種獲取液晶顯示屏最佳FLK值的調試方法及裝置，通過該調試方法及裝置能夠快速獲取液晶顯示屏的最佳FLK值，且調試速度快，調試效率高。

一種獲取液晶顯示屏最佳FLK值的調試方法，其中，所述調試步驟為：

結合IC規格書和液晶顯示屏規格書，給待測液晶顯示屏設定合理VCOM電壓范圍V₀～V₁，并在V₀～V₁范圍內選定一個值作為VCOM參考值V_R；

通過測試板點亮待測液晶顯示屏，采用色彩分析儀獲取在V_R下對應液晶顯示屏的FLK參考值F_R；

在設定V₀～V₁范圍內，向V₁的方向調節VCOM電壓的當前值V_C，采用色彩分析儀測試對應VCOM電壓值V_C下的FLK當前值F_C；

將每次獲取的F_C與F_R進行比較；

若F_C<F_R繼續向V₁方向調節V_C，至獲取FLK的最小值F_min為止，

若F_C>F_R則向V₀方向調節V_C，至獲取FLK的最小值F_min為止。

所述在設定V₀～V₁范圍內調節電壓，由程序設定自動更改，而無需手動進行調節。