[發(fā)明專利]分離式柵閃存結構有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610055047.7 | 申請日: | 2016-01-27 |
| 公開(公告)號: | CN105609506B | 公開(公告)日: | 2018-09-21 |
| 發(fā)明(設計)人: | 安西琳;周俊;李赟 | 申請(專利權)人: | 武漢新芯集成電路制造有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/115 | 分類號: | H01L27/115;H01L21/28 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務所 31272 | 代理人: | 俞滌炯 |
| 地址: | 430205 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分離 閃存 結構 | ||
1.一種分離式柵閃存結構,其特征在于,包括:
襯底,設置有源區(qū)和漏區(qū);
擦除柵,設置于所述源區(qū)之上;
分柵結構,設置于所述源區(qū)和漏區(qū)之間的所述襯底之上,所述分柵結構包括浮柵、控制柵以及包括一個水平部分和一個垂直部分的L形字線柵,且所述L形字線柵的水平部分的上表面低于所述浮柵的上表面;
其中,所述控制柵設置于所述浮柵和所述L形字線柵的水平部分之上,且部分位于所述L形字線柵的水平部分之上的所述控制柵的下表面低于所述浮柵的上表面使得所述控制柵與所述浮柵具有部分縱向交疊區(qū)域,以增加所述控制柵和所述浮柵的耦合面積。
2.如權利要求1所述的分離式柵閃存結構,其特征在于,所述L形字線柵的水平部分比所述控制柵的厚度薄180~220埃。
3.如權利要求1所述的分離式柵閃存結構,其特征在于,所述L形字線柵的材質(zhì)為多晶硅或金屬。
4.如權利要求1所述的分離式柵閃存結構,其特征在于,所述浮柵為方體結構,且所述浮柵臨近所述擦除柵的拐角設置為圓角。
5.如權利要求1所述的分離式柵閃存結構,其特征在于,所述分柵結構和所述擦除柵之間設置有遂穿氧化層。
6.如權利要求1所述的分離式柵閃存結構,其特征在于,所述L形字線柵和所述襯底之間設置有柵介質(zhì)層。
7.如權利要求6所述的分離式柵閃存結構,其特征在于,所述柵介質(zhì)層的材質(zhì)為二氧化硅或高介電常數(shù)材料。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





