[發明專利]液晶面板點燈測試時的探針定位方法及系統在審
| 申請號: | 201610053799.X | 申請日: | 2016-01-27 |
| 公開(公告)號: | CN106814478A | 公開(公告)日: | 2017-06-09 |
| 發明(設計)人: | 李賢民 | 申請(專利權)人: | 北京瑞榮達電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京市盛峰律師事務所11337 | 代理人: | 席小東 |
| 地址: | 100176 北京市大興區經濟*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 液晶面板 點燈 測試 探針 定位 方法 系統 | ||
技術領域
本發明屬于液晶面板測試技術領域,具體涉及一種液晶面板點燈測試時的探針定位方法及系統。
背景技術
液晶面板在正式出廠前,均需要進行點燈測試,從而檢測液晶面板是否存在壞點。傳統技術中,如圖1所示,為液晶面板點燈測試裝置與液晶面板的連接布置圖;在圖1中,1代表液晶面板;2代表液晶面板點燈測試裝置;如圖2所示,為圖1中A區域的剖面圖;從圖2可以看出,液晶面板點燈測試裝置配置有若干個測試接口3,液晶面板印刷有多條測試線;在每個測試接口和測試線之間設置有探針4,通過探針使測試接口和測試線之間實現電路連接,從而最終通過判斷測試線的亮滅情況檢測液晶面板是否存在壞點。
然而,在實現本發明的過程中,發明人發現,現有技術至少存在以下問題:
當使用時間較長時,容易出現探針左右晃動的情況,嚴重時,探針的一端甚至從測試接口中完全脫離,出現圖3所示的情況,從而導致測試接口和測試線之間不具有電連接,無法進行有效的液晶面板點燈測試。
發明內容
針對現有技術存在的缺陷,本發明提供一種液晶面板點燈測試時的探針定位方法及系統,可有效解決上述問題。
本發明采用的技術方案如下:
本發明提供一種液晶面板點燈測試時的探針定位方法,包括以下步驟:
步驟1,在液晶面板的內部印刷有n根測試線,在液晶面板的側面設置有m個測試插槽;將n根測試線劃分為n/m組,每組測試線的末端均固定到對應的一個測試插槽中;其中,n和m均為自然數;
步驟2,液晶面板點燈測試裝置配置有m個測試接口,將m個測試接口與m個測試插槽相對設置后,在m個測試接口與m個測試插槽之間設置一層保護膜;所述保護膜開設有m個固定通孔;該固定通孔與探針的外徑相匹配;
還配置有m個探針;每個所述探針的一端插入到一個測試插槽的內部,所述探針的另一端穿過所述保護膜的固定通孔后,插入到一個測試接口的內部,由此實現通過探針將測試接口和對應的測試插槽的電連接,并且,通過保護膜定位探針。
優選的,所述保護膜為絕緣材質。
優選的,所述保護膜被熱塑固定在所述液晶面板點燈測試裝置和所述液晶面板之間。
本發明還提供一種液晶面板點燈測試時的探針定位系統,包括液晶面板、液晶面板點燈測試裝置、探針以及保護膜;
其中,所述液晶面板的內部印刷有n根測試線,在液晶面板的側面設置有m個測試插槽;將n根測試線劃分為n/m組,每組測試線的末端均固定到對應的一個測試插槽中;其中,n和m均為自然數;
所述液晶面板點燈測試裝置配置有m個測試接口,將m個測試接口與m個測試插槽相對設置后,在m個測試接口與m個測試插槽之間設置一層所述保護膜;所述保護膜開設有m個固定通孔;該固定通孔與探針的外徑相匹配;
所述探針的配置數量同樣為m個;每個所述探針的一端插入到一個測試插槽的內部,所述探針的另一端穿過所述保護膜的固定通孔后,插入到一個測試接口的內部,由此實現通過探針將測試接口和對應的測試插槽的電連接,并且,通過保護膜定位探針。
優選的,所述保護膜為絕緣材質。
優選的,所述保護膜被熱塑固定在所述液晶面板點燈測試裝置和所述液晶面板之間。
本發明提供的液晶面板點燈測試時的探針定位方法及系統具有以下優點:
(1)通過設置保護膜,可保證長時間使用時探針穩定固定在測試插槽和測試接口之間,不會發生位置偏移以及脫落現象,從而保證測試插槽和測試接口之間長期穩定的電性連接,保證測試質量;
(2)還具有結構簡單、制造工藝簡單以及成本低的優點,可廣泛推廣使用。
附圖說明
圖1為現有技術提供的液晶面板點燈測試裝置與液晶面板的連接布置圖;
圖2為圖1中A區域的剖面圖;
圖3為現有技術中長時間使用后探針出現晃動或脫離狀態時的結構圖;
圖4為本發明提供的安裝保護膜后探針的布置示意圖。
具體實施方式
為了使本發明所解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白,以下結合附圖及實施例,對本發明進行進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發明,并不用于限定本發明。
結合圖4,本發明提供一種液晶面板點燈測試時的探針定位方法,包括以下步驟:
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