[發(fā)明專利]利用表面起皺測量偶氮苯薄膜光軟化的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610052542.2
• 申請日: 2016-01-26
• 公開（公告）號: CN105699703B
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 魯從華;姬海鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 天津大學
• 主分類號: G01Q60/24
• 分類號: G01Q60/24
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務(wù)所 12201
• 代理人: 李麗萍

1.一種利用表面起皺測量偶氮苯薄膜光軟化的方法，包括以下步驟：

步驟一、將PDMS預(yù)聚體和交聯(lián)劑按質(zhì)量比為10：1混合后，充分攪拌形成均勻的預(yù)聚物，將此預(yù)聚物在真空泵中脫氣后倒入培養(yǎng)皿中，80℃加熱交聯(lián)；

步驟二、將步驟一交聯(lián)得到的PDMS彈性體固定到拉伸臺上，按照預(yù)拉伸率為5％進行拉伸；

步驟三、在潔凈的玻璃基底上旋涂質(zhì)量分數(shù)2wt％PAzo的四氫呋喃溶液，加熱烘干，得到PAzo薄膜；

步驟四、在常溫水浴環(huán)境下，將步驟三在玻璃基底上得到的PAzo薄膜轉(zhuǎn)移到步驟二預(yù)拉伸后的PDMS上，形成PDMS/PAzo雙層體系，真空條件下進行干燥；

步驟五、將步驟四獲得的PDMS/PAzo雙層體系在光照條件下以6mm/min勻速進行回縮，光照強度通過光源輸出電壓進行調(diào)節(jié)，回縮完成后產(chǎn)生皺紋形貌；

步驟六、利用原子力顯微鏡對步驟三得到的PAzo薄膜膜厚進行測量，利用光學顯微鏡對步驟五形成的皺紋的周期進行測量，代入式(1)中，計算得到PAzo薄膜的彈性模量，

式(1)中：λ₀為皺紋周期；h為PAzo薄膜的膜厚；E_f為PAzo薄膜的彈性模量；E_s為PDMS的彈性模量，E_s＝1.5MPa；ν_f為PAzo薄膜的泊松比，ν_f＝0.33；ν_s為PDMS的泊松比，ν_s＝0.5。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述利用表面起皺測量偶氮苯薄膜光軟化的方法，其中，步驟五中，通過控制輻照光強來調(diào)節(jié)皺紋周期，隨著輻照光強的增大，皺紋周期逐漸減小。