[發(fā)明專利]硫硅半導體合金疊層太陽能電池的制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610052241.X | 申請日: | 2016-01-27 |
| 公開(公告)號: | CN105679653B | 公開(公告)日: | 2018-02-06 |
| 發(fā)明(設計)人: | 楊永佳;胡思福;李同彩;胡志偉;菲利克斯.胡;李曉紅;劉德雄;溫才;唐金龍;蔣鑫 | 申請(專利權)人: | 西南科技大學;成都特頻微電子科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/24;H01L31/18 |
| 代理公司: | 成都立信專利事務所有限公司51100 | 代理人: | 馮忠亮 |
| 地址: | 621010 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 合金 太陽能電池 制作方法 | ||
1.硫硅半導體合金疊層太陽能電池的制作方法,其特征在于包含以下步驟:
1)將硅基太陽能電池襯底芯片清洗烘干后,放置于真空鍍膜機真空室內旋轉支架上,
2)用高真空電子束鍍膜裝置,真空度優(yōu)于3×10-3Pa,電子束加熱裝置的束流100-350mA,蒸鍍時間5-30min,石墨坩堝盛Si塊,襯底芯片置于旋轉支架上,旋轉支架轉速5-10圈/分,蒸鍍第一層Si膜,厚度0.1-1μm,
3)關閉電子束加熱裝置,開啟鉬舟熱電阻加熱器,加熱電流50-350A,鉬舟內盛高純S粉末0.05-0.15g重量,在襯底芯片的第一層Si膜上蒸鍍第二層S膜,厚度0.1-0.5μm,關閉鉬舟加熱器,
4)用步驟2)同樣工藝在襯底芯片的第二層S膜蒸鍍第三層Si膜,厚度控制在0.3-1μm,在襯底芯片的表面形成Si/S/Si三層膜,
5)關閉電子束加熱裝置,開啟旋轉支架的電加熱器,3×10-3 Pa高真空度下升溫至80-300℃,將Si/S/Si三層膜進行真空退火處理10-30分鐘,使液態(tài)S原子向多孔的Si膜中擴散遷移,S均勻分布在多孔的Si膜中,3×10-3 Pa高真空度下的退火處理,防止S原子的氧化,
6)將襯底芯片從高真空鍍膜機真空室取出,置于高溫退火爐或高溫氧化爐,在300-800℃高溫、N2保護下熱處理5-30分鐘,使襯底芯片表面上的多層薄膜轉變成S均勻分布致密的S/Si混合物,防止ns激光外延生長S/Si合金,S原子的外擴散造成合金體中S原子濃度的降低,
7)將襯底芯片置于可移動的真空室中,充入高純N2至1個大氣壓,
8)用激光帶產生裝置將納秒激光整形,形成激光帶,
9)將上述激光帶掃描置于可移動的真空室中的襯底芯片,在其表面形成平行等間距的條狀n+(s)型S/Si半導體合金層,呈現(xiàn)多晶結構。
2.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于步驟4)中在襯底芯片的表面形成Si/S/Si三層膜基礎上至少重復鍍S/Si膜一次,形成Si/S/Si/S/Si五層膜,鍍S工藝同步驟3)鍍Si工藝同步驟2),多層膜的總厚度達到0.5-3.5μm。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的方法,其特征在于步驟7)中的真空室的體積為20×20×5cm,抽真空達10-1Pa后再充氮氣,步驟8)中將532或1064nm波長的納秒激光整形,在柱面透鏡的聚焦點處形成激光帶,激光帶長度0.5-3cm,寬度0.5-2mm,納秒激光脈沖寬度在1ns-800ns,重復頻率10-100Hz,步驟9)中的參數(shù)如下:
(1)激光帶激光能量密度5-100mj/cm2,使芯片表面S/Si混合物熔化,在其表面形成平行等間距的條狀n+(s)型S/Si半導體合金層,
(2)襯底芯片移動速度50-500μm/s,
(3)條狀S/Si半導體合金層寬度200nm,長度10mm,S/Si半導體合金平行條的間距為500nm,
(4)襯底芯片表面n+(s)型S/Si半導體合金層中S原子濃度到達5×1018-1020/cm3,n+(s)型S/Si半導體合金層的表面薄層電阻為10-50歐,在25-75℃環(huán)境溫度下其薄層電阻具有負的電阻溫度系數(shù),
(5)S/Si半導體合金層在1.1~2.5μm太陽光近紅外區(qū)的光吸收率達90%以上。
4.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于包含以下步驟8)中調整激光帶產生裝置的激光光路,使散焦位置處的帶狀ns激光平面尺寸為寬為5mm,長為30mm,散焦位置處的激光能量密度30mj~150mj/cm2,ns激光重復頻率10~100Hz,在步驟9)中使可移動的真空室內的襯底芯片處于柱面透鏡聚焦點后5~30mm散焦位置,襯底芯片移動速度50~500μm/s,S/Si半導體合金層與襯底芯片表面的絨面結構呈共形覆蓋。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





