[發(fā)明專利]一種基于數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)關(guān)系的設(shè)備缺陷評估與預(yù)測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610051473.3
• 申請日: 2016-01-26
• 公開（公告）號: CN105740975B
• 公開（公告）日: 2019-08-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃緒勇;王閘;孫鵬;劉文波
• 申請（專利權(quán)）人: 云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號: G06Q10/04
• 分類號: G06Q10/04;G06Q10/06;G06Q50/06
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種基于數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)關(guān)系的設(shè)備缺陷評估與預(yù)測方法，其特征在于，所述方法主要包括：

整合電網(wǎng)設(shè)備的歷史監(jiān)測數(shù)據(jù)，提取所述電網(wǎng)設(shè)備的某一項(xiàng)設(shè)備缺陷類型與所述設(shè)備缺陷類型對應(yīng)的數(shù)據(jù)因素，所述數(shù)據(jù)因素為所述設(shè)備缺陷類型對應(yīng)的檢測對象；

將所述設(shè)備缺陷類型對應(yīng)的數(shù)據(jù)因素進(jìn)行整合，獲得包括其對應(yīng)全部數(shù)據(jù)因素的數(shù)據(jù)因素集合和所述數(shù)據(jù)因素集合對應(yīng)的因素監(jiān)測數(shù)據(jù)庫，所述因素監(jiān)測數(shù)據(jù)庫包括所述設(shè)備缺陷類型的監(jiān)測數(shù)據(jù)；

獲取所述設(shè)備缺陷類型與其對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)因素集合內(nèi)元素的關(guān)聯(lián)系數(shù)，并獲得關(guān)聯(lián)系數(shù)集合，所述關(guān)聯(lián)系數(shù)集合為，其中：n為所述設(shè)備缺陷類型對應(yīng)的數(shù)據(jù)因素的個(gè)數(shù)，γ_i為第i個(gè)數(shù)據(jù)因素對應(yīng)的關(guān)聯(lián)系數(shù)；

構(gòu)建所述設(shè)備缺陷類型的評估預(yù)測模型，，其中，為第i個(gè)數(shù)據(jù)因素；

結(jié)合所述評估預(yù)測模型和所述因素監(jiān)測數(shù)據(jù)庫，計(jì)算所述缺陷類型對應(yīng)的所有評估預(yù)測模型y值；

將計(jì)算得到的所述所有評估預(yù)測模型y值，按照缺陷發(fā)生或缺陷未發(fā)生將所述所有評估預(yù)測模型y值分成兩個(gè)集合；

將所述所有評估預(yù)測模型y值進(jìn)行區(qū)間劃分，計(jì)算每一個(gè)區(qū)間內(nèi)評估預(yù)測模型y值的分布概率；

重復(fù)上述步驟，分別構(gòu)建所有設(shè)備缺陷類型的評估預(yù)測模型，獲取所述所有設(shè)備缺陷類型對應(yīng)的區(qū)間分布概率；

根據(jù)所述所有設(shè)備缺陷類型的評估預(yù)測模型和所有設(shè)備缺陷類型對應(yīng)的區(qū)間分布概率進(jìn)行設(shè)備缺陷評估和設(shè)備缺陷預(yù)測，所述設(shè)備缺陷評估是對當(dāng)前時(shí)刻設(shè)備狀態(tài)進(jìn)行評估，所述設(shè)備缺陷預(yù)測是對未來時(shí)刻設(shè)備缺陷是可能發(fā)生進(jìn)行預(yù)測；

比較所述所有設(shè)備缺陷類型對應(yīng)的區(qū)間分布概率，獲取最大的分布概率，將所述最大的分布概率對應(yīng)的評估預(yù)測模型作為缺陷評估的最終結(jié)論；

其中，所述關(guān)聯(lián)系數(shù)的獲得是利用雙變量相關(guān)分析中的Spearman秩相關(guān)方法及相關(guān)系數(shù)臨界表計(jì)算得出。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)關(guān)系的設(shè)備缺陷評估與預(yù)測方法，其特征在于，所述方法還包括：將所述所有設(shè)備缺陷類型進(jìn)行編碼，所述編碼與所述評估預(yù)測模型一一對應(yīng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)關(guān)系的設(shè)備缺陷評估與預(yù)測方法，其特征在于，所述方法還包括：

當(dāng)對未來一周進(jìn)行缺陷預(yù)測，獲取所述一周前一個(gè)月內(nèi)的因素監(jiān)測數(shù)據(jù)庫；

對所述因素監(jiān)測數(shù)據(jù)庫內(nèi)各類數(shù)據(jù)進(jìn)行趨勢擬合曲線預(yù)測；

預(yù)測獲得未來一周的因素監(jiān)測數(shù)據(jù)，將所述未來一周的因素監(jiān)測數(shù)據(jù)帶入所述最大分布概率對應(yīng)的評估預(yù)測模型，分析得缺陷分析結(jié)論，所述缺陷分析結(jié)論包括不發(fā)生缺陷或可能發(fā)生缺陷。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)關(guān)系的設(shè)備缺陷評估與預(yù)測方法，其特征在于，在所述將計(jì)算得到的所述所有評估預(yù)測模型y值，按照缺陷發(fā)生或缺陷未發(fā)生將所述所有評估預(yù)測模型y值分成兩個(gè)集合中，

將所述兩個(gè)集合分別記為和，其中：z= 1表示缺陷發(fā)生，z= 0表示缺陷未發(fā)生。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)關(guān)系的設(shè)備缺陷評估與預(yù)測方法，其特征在于，所述歷史監(jiān)測數(shù)據(jù)為5-10年內(nèi)的監(jiān)測數(shù)據(jù)。