[發明專利]基于FPGA的磁通門微小信號檢測系統及方法在審
| 申請號: | 201610051030.4 | 申請日: | 2016-01-26 |
| 公開(公告)號: | CN105572606A | 公開(公告)日: | 2016-05-11 |
| 發明(設計)人: | 宋新建;郭文博;詹承俊;張澤瀚;楊煜普 | 申請(專利權)人: | 上海交通大學 |
| 主分類號: | G01R33/04 | 分類號: | G01R33/04 |
| 代理公司: | 上海交達專利事務所 31201 | 代理人: | 王毓理;王錫麟 |
| 地址: | 200240 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 fpga 磁通門 微小 信號 檢測 系統 方法 | ||
技術領域
本發明涉及的是一種微弱磁場測量控制領域的技術,具體是一種基于FPGA的磁通 門微小信號檢測系統及方法。
背景技術
磁通門傳感器是一種測量磁場信息的傳感器,廣泛應用于微磁測量。磁通門現象 是一種普遍的電磁感應現象,當鐵芯磁導率隨激勵磁場強度發生變化時,輸出線圈的感應 電勢中就會出現隨環境磁場強度而變的偶次諧波分量。由于磁通門傳感器的感應線圈中的 輸出信號非常微弱,往往被噪聲信號淹沒,提取有用的二次諧波信號會非常的困難。
在現有的微弱信號檢測方法中,模擬鎖相放大器是一種廣泛應用的檢測方法,不 過由于其采用模擬電路來實現,受到電子器件的特性影響,會引進很多的噪聲,容易受到溫 漂的影響,且相關檢測器的積分時間有限,導致檢測精度受到限制。數字鎖相放大器的出現 克服了模擬鎖相放大器的一些缺點,極大地改善了鎖相放大器的性能。
發明內容
本發明針對現有技術存在的上述不足,提出一種基于FPGA的磁通門微小信號檢測 系統及方法。
本發明是通過以下技術方案實現的:
本發明涉及一種基于FPGA的磁通門微小信號檢測系統,包括:檢測模塊、處理模塊 和輸出模塊,其中:檢測模塊將磁通門信號轉化為數字信號傳送到處理模塊,該處理模塊處 理后得到二次諧波信號并傳送到輸出模塊。
所述的檢測模塊包括:磁通門傳感器、差分放大器以及帶通濾波器,其中:磁通門 傳感器、差分放大器和帶通濾波器依次串聯,帶通濾波器連有模數轉換器。
所述的處理模塊包括:直接數字頻率合成(DDS)發生器、數字相敏檢波器、第一低 通濾波器和運算處理器,其中:數字相敏檢波器、第一低通濾波器和運算處理器相連,數字 相敏檢波器另一端與模數轉換器相連,DDS發生器與磁通門傳感器相連。
所述的輸出模塊包括:液晶顯示器、數模轉換器和第二低通濾波器,其中:液晶顯 示器與所述運算處理器相連,數模轉換器分別與第二低通濾波器和運算處理器相連,第二 低通濾波器另一端經第二功率放大器與負載相連。
所述的處理模塊由現場可編程門陣列(FPGA)實現。
所述的帶通濾波器由低通濾波器和高通濾波器構成。
所述的磁通門微小信號檢測系統設有直流穩壓電源模塊。
本發明涉及上述系統的磁通門微小信號檢測方法,首先將頻率為f0/2正弦波經功 率放大后對磁通門傳感器的激勵線圈進行飽和激勵,生成頻率為f0磁通門信號,該磁通門 信號經濾波并進行模數(AD)轉換后,與兩路正交的參考信號進行互相關檢測得到二次諧波 信號及其幅值與相位,最后該二次諧波信號經數模(DA)轉換后帶動負載工作。
所述的磁通門微小信號檢測方法具體包括以下步驟:
1)產生頻率為f0/2的正弦波信號并經功率放大后輸入激勵線圈;
2)感應線圈輸出頻率為的f0磁通門信號并通過帶通濾波降低噪聲;
3)進行模數轉換將磁通門信號轉換為數字信號;
4)將磁通門信號與參考信號進行互相關檢測得到其中的二次諧波信號;
5)計算得到二次諧波信號的幅值與相位;
6)通過數模轉換,將二次諧波信號轉換為模擬信號帶動負載工作。
所述的f0頻率范圍為10KHz~5MHz。
所述的兩路參考信號為rs(k)和rc(k),其中:和其頻率都為f0,n=fs/f0,k=0,1,...,(n×m-1),fs為采樣頻率,m為周期數。
所述的二次諧波信號的幅值相位為其中:
技術效果
與現有技術相比,本發明利用FPGA實現相關運算處理,減少了信號傳輸的滯后性, 噪聲抑制能力強,信號處理便利,同時其測量精度高,可以檢測納伏級的微弱信號。
附圖說明
圖1為基于FPGA的磁通門微小信號檢測系統的結構示意圖;
圖2為磁通門微小信號檢測方法的流程示意圖;
圖3為參考信號生成過程框圖;
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