[發明專利]一種基于散射能譜雙能窗計算巖石密度的方法有效
| 申請號： | 201610049010.3 | 申請日： | 2016-01-25 |
| 公開（公告）號： | CN105571986B | 公開（公告）日： | 2018-02-16 |
| 發明（設計）人： | 張鋒;吳赫;張泉瀅;王新光;劉軍濤 | 申請（專利權）人： | 中國石油大學（華東） |
| 主分類號： | G01N9/24 | 分類號： | G01N9/24;G01N23/203 |
| 代理公司： | 濟南舜源專利事務所有限公司37205 | 代理人： | 王連君 |
| 地址： | 266580 山*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 散射 能譜雙能窗 計算 巖石 密度 方法 | ||
1.一種基于散射能譜雙能窗計算巖石密度的方法，采用基于散射能譜雙能窗的巖石密度測量裝置，其包括伽馬放射源、核密度測量儀、待測巖石樣品、伽馬探測器，所述伽馬放射源與伽馬探測器以一定的間距放置于待測巖石樣品的同一表面，所述伽馬放射源和伽馬探測器之間設置有伽馬屏蔽體；
其特征在于：所述的基于散射能譜雙能窗計算巖石密度的方法，按照如下步驟進行：
步驟1：伽馬放射源放出伽馬射線經康普頓散射，以伽馬探測器探測的散射伽馬能譜為依據，選定高能窗和低能窗，其計數率分別為Nk、Np，利用蒙特卡羅數值模擬方法獲得無巖性影響時高能窗和低能窗的計數率與密度的響應公式為：
式中，k1，k2和t1，t2是與核密度測量儀有關的固定參數；
進一步，高能窗和低能窗的密度響應：
步驟2：待測巖石樣品的密度一定時，高能窗和低能窗的計數率的對數受巖性指數的影響程度不一致，通過高能窗和低能窗的伽馬計數率計算出的密度響應偏離真實被測巖石樣品密度的大小亦不一致，基于高能窗的密度響應構建的待測巖石樣品真密度計算公式形式為：
ρ＝ρK+Δρ；
式中，Δρ為密度校正量；
步驟3：利用蒙特卡羅數值模擬方法或實驗刻度的方法通過改變待測巖石樣品的密度和巖性指數，對基于散射能譜雙能窗的巖石密度測量裝置進行刻度，得到Δρ＝f(ρP-ρK)的函數關系，Δρ＝f(ρP-ρK)表示為：
Δρ＝a1(ρP-ρK)+a2(ρP-ρK)2+…+ai(ρP-ρK)i；
式中，a1，a2為常數，i＝1，2，3…；
步驟4：由步驟2和步驟3，得到待測巖石樣品的真密度為：
ρ＝ρK+a1(ρP-ρK)+a2(ρP-ρK)2。
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