[發(fā)明專利]基于線性陣列聚焦?時間反轉的鋼板Lamb波檢測成像方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610047917.6
• 申請日: 2016-01-25
• 公開（公告）號: CN105738478B
• 公開（公告）日: 2017-10-27
• 發(fā)明（設計）人: 涂君;宋小春;邱公喆;李羽可;熊芝;陳濤
• 申請（專利權）人: 湖北工業(yè)大學
• 主分類號: G01N29/07
• 分類號: G01N29/07
• 代理公司: 北京清亦華知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙)11201
• 代理人: 張大威

1.基于Lamb波大平面板缺陷成像識別方法，其特征是采用線性陣列聚焦探頭作為超聲波激勵-接收聲源，線性陣列換能器沿大平面板的一邊布設，按照一定的規(guī)則激勵一組超聲相控陣傳感器陣列，實現(xiàn)聲波在大平面板中任意一點的聚焦；對包含缺陷信息的回波信號進行時間反轉處理，并將處理后的信號作為新的波源加載到模型中發(fā)射，實現(xiàn)聲波在缺陷處的二次聚焦；建立在缺陷二次聚焦時刻的幅值聚焦圖，對大平板缺陷進行成像；缺陷成像識別的具體步驟包括：

步驟1：將待掃描區(qū)域進行離散化，通過聚焦陣列探頭分時沿不同角度發(fā)射超聲波，每個探頭發(fā)射超聲波的時刻為A_m,i，其下標代表第m個掃描區(qū)域內的第i個探頭；

步驟2：設定報警缺陷閾值，提取陣列探頭接收到缺陷反射回波的時刻B_m,i，計算反轉延遲時間ΔT_m,i，截取時間窗長度L_m,i；

步驟3：將截取時間窗長度L_m,i內的信號進行時間反轉得到時反信號f_m,i，并重新加載至第i個探頭，則在缺陷處實現(xiàn)二次聚焦的時刻為F_m,i；

步驟4：建立在二次聚焦F_m,i時刻的幅值聚焦圖K，K圖上的每一個像素點對應于模型上的每個結構單元；

步驟5：將掃描區(qū)域劃分為h×g的網(wǎng)格，將網(wǎng)格中心點回波幅值K_m,p近似為整個網(wǎng)格的回波幅值，建立二維像素矩陣P，

P∝(K_m,p)_h×g

在圖像像素值最大處，為缺陷。

2.根據(jù)權利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像識別方法，其特征是步驟2中反轉延遲時間ΔT_m,i的計算公式為：

ΔTm,i=(Bm,i-Bm,0)-(Am,i-Am,0)2]]>

時間窗長度L_m,i的計算公式為：

L_m,i＝B_m,i+ΔT_m,N-i。

3.根據(jù)權利要求1所述的基于Lamb波大平面板缺陷成像識別方法，其特征是步驟3中在缺陷處實現(xiàn)二次聚焦的時刻為F_m,i的計算公式為：

F_m,i＝L_m,i-(A_m,i+B_m,i)/2。