[發明專利]具有對焦及防抖功能的攝像頭模組在審
| 申請號: | 201610044501.9 | 申請日: | 2016-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN105573014A | 公開(公告)日: | 2016-05-11 |
| 發明(設計)人: | 王昕 | 申請(專利權)人: | 南昌歐菲光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G03B5/00 | 分類號: | G03B5/00;G03B13/36;H04N5/225 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 石佩 |
| 地址: | 330013 江西省南昌市南*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 對焦 功能 攝像頭 模組 | ||
技術領域
本發明涉及攝像頭模組技術領域,特別是涉及一種具有對焦及防抖功能的 攝像頭模組。
背景技術
隨著技術的發展與進步,具有對焦及防抖功能的微型攝像頭模組被廣泛應 用于手機、PAD等電子產品上,使其具有拍照和攝像功能。傳統具有對焦及防 抖功能的攝像頭模組通常采用懸吊線結構,采用此種結構時,其防抖裝置通常 位于對焦裝置下方,并且通過具有彈性的四根懸吊線連接。
在沒有抖動的拍攝情況下,對焦裝置驅動鏡頭模組沿其光軸方向運動以拍 攝清晰圖像。在發生抖動的情況下,鏡頭可能沿X軸方向或Y軸方向微小移動, 抖動補償時防抖裝置驅動對焦裝置沿X軸方向或Y軸方向運動以補償抖動量。 而抖動量是通過安裝在電子產品或攝像頭模組上的陀螺儀來偵測。另外,防抖 裝置還設置有霍爾感應器,用于在抖動補償過程中檢測磁變化量并反饋給控制 器,控制器根據磁變化量控制防抖線圈的電流以最終達到預定補償移動量。
然而上述具有對焦及防抖功能的攝像頭模組不僅結構復雜,而且懸吊線一 般采用特制材料,成本高。
發明內容
基于此,有必要針對上述技術問題,提供一種不采用懸吊線結構也能實現 對焦及防抖功能的具有對焦及防抖功能的攝像頭模組。
一種具有對焦及防抖功能的攝像頭模組,包括:
支架外殼,具有一開口端,與所述開口端相對的一端開設有通光孔;
第一電路板,設置于所述開口端,所述支架外殼與所述第一電路板共同圍 成一收容空間;
自動對焦鏡頭模組,收容于所述收容空間內,所述自動對焦鏡頭模組與所 述第一電路板電連接;及
防抖機構,包括第一連接件、第一驅動件、第一導引件及第二導引件,所 述第一導引件位于所述第一電路板上,所述第二導引件位于所述自動對焦鏡頭 模組的底部,所述第一連接件連接所述第一導引件及所述第二導引件,所述第 一驅動件用于驅動所述自動對焦鏡頭模組相對于所述第一電路板沿垂直于所述 自動對焦鏡頭模組的光軸的平面移動。
在其中一個實施例中,所述第一導引件包括開設于所述第一電路板上的至 少三個不在同一直線上的第一圓形導軌,所述第二導引件包括開設于所述自動 對焦鏡頭模組的底部的至少三個不在同一直線上的第二圓形導軌,所述第一連 接件包括設置于所述第一圓形導軌與所述第二圓形導軌之間的第一滾珠。
在其中一個實施例中,所述第一圓形導軌的直徑等于所述第二圓形導軌的 直徑,所述第一滾珠的直徑小于所述第一圓形導軌的直徑,所述第一滾珠的直 徑大于兩倍的所述第一圓形導軌的深度。
在其中一個實施例中,所述第一驅動件包括第一線圈、第二線圈、第一磁 性體及第二磁性體;
所述第一線圈設于所述自動對焦鏡頭模組的底部,所述第一磁性體設于所 述第一電路板上且與所述第一線圈相對設置,所述第一線圈通過通電產生磁場 并與所述第一磁性體相作用從而驅動所述自動對焦鏡頭模組沿所述平面內的第 一方向移動;
所述第二線圈設于所述自動對焦鏡頭模組的底部,所述第二磁性體設于所 述第一線路板上且與所述第二線圈相對,所述第二線圈通過通電產生磁場并與 所述第二磁性體相作用從而驅動所述自動對焦鏡頭模組沿所述平面內的第二方 向移動;其中,所述第一方向垂直于所述第二方向。
在其中一個實施例中,所述防抖機構還包括第二連接件、第三導引件及第 四導引件,所述第三導引件設置于所述支架外殼上開設有通光孔的頂壁的內表 面,所述第四導引件設置于所述自動對焦鏡頭模組的頂部,所述第二連接件連 接所述第三導引件與所述第四導引件。
在其中一個實施例中,所述第三導引件包括開設于所述支架外殼上開設有 通光孔的頂壁的內表面的至少三個不在同一直線上的第三圓形導軌;
所述第四導引件包括開設于所述自動對焦鏡頭模組的頂部且與所述第三圓 形導軌對應設置的至少三個不在同一直線上的第四圓形導軌;
所述第二連接件包括設于所述多個第三圓形導軌與所述多個第四圓形導軌 之間的多個第二滾珠。
在其中一個實施例中,所述第三圓形導軌的直徑等于所述第四圓形導軌的 直徑,所述第二滾珠的直徑小于所述第三圓形導軌的直徑,所述第二滾珠的直 徑大于兩倍的所述第三圓形導軌的深度。
在其中一個實施例中,所述防抖機構還包括第一檢測元件、第二檢測元件 及控制器;
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