[發明專利]一種帶電微納米顆粒的超低濃度探測方法

在審

• 申請號: 201610044462.2
• 申請日: 2016-01-22
• 公開（公告）號: CN105699262A
• 公開（公告）日: 2016-06-22
• 發明（設計）人: 朱亮;李國花
• 申請（專利權）人: 清華大學深圳研究生院
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司 44223
• 代理人: 王震宇

1.一種帶電微納米顆粒的超低濃度探測方法，其特征在于,包括以下 步驟：

S1、準備載玻片，使其表面功能化以修飾上可在溶液中電離的基團， 所述基團在溶液相中所電離出的電荷與待測帶電微納米顆粒所帶電荷的電 性相反；

S2、將帶電微納米顆粒的溶液滴在功能化的所述載波片上，溶液中的 帶電微納米顆粒受到所述功能基團所電離出的異性電荷的相互吸引作用而 被吸附于溶液滴落點與功能化的所述載玻片的交界面上，形成微納米顆粒 的富集區域；

S3、將蓋玻片置于所述載玻片的溶液滴落上方，施加一定壓力使溶液 向四周均勻擴散，制成載玻片樣本；

S4、依據帶電微納米顆粒的種類，利用適當的顯微鏡在所述載玻片樣 本上找到帶電微納米顆粒的富集區域，用相機拍攝并統計其中單位面積的 帶電微納米顆粒的個數，基于所得的統計結果測定出帶電微納米顆粒的濃 度。

2.如權利要求1所述的帶電微納米顆粒的超低濃度探測方法，其特 征在于,步驟S2中，將1-10微升的帶電微納米顆粒的溶液滴在功能化的 所述載波片上1-10分鐘。

3.如權利要求1或2所述的帶電微納米顆粒的超低濃度探測方法， 其特征在于,所述帶電微納米顆粒為在暗場下可觀察計數的貴金屬微納米 顆粒，步驟S4中，使用暗場顯微鏡找到所述帶電微納米顆粒的富集區域， 用相機拍攝并統計其中單位面積的帶電微納米顆粒的個數，進而確定富集 區域內總的帶電微納米顆粒個數。

4.如權利要求1或2所述的帶電微納米顆粒的超低濃度探測方法， 其特征在于,所述帶電微納米顆粒為在熒光顯微鏡下可觀察計數的熒光 微納米球或者上轉換熒光微納米晶，步驟S4中，使用熒光顯微鏡找到所 述帶電微納米顆粒的富集區域，用相機拍攝并統計其中單位面積的帶電微 納米顆粒個數，進而確定富集區域內總的帶電微納米顆粒個數。

5.如權利要求1或2所述的帶電微納米顆粒的超低濃度探測方法， 其特征在于,所述帶電微納米顆粒為帶正電或帶負電的微納米顆粒；優選 地，對于帶負電的微納米顆粒，步驟S1中，在載玻片上修飾帶正電的氨 基基團。

6.如權利要求1或2所述的帶電微納米顆粒的超低濃度探測方法， 其特征在于,所述帶電微納米顆粒為表面功能化偶聯有DNA磷酸基團的金 微納米棒，步驟S1包括以下步驟：

S11、將所述載玻片浸泡于濃硫酸與雙氧水體的混合溶液中一段時間， 再經過去離子水沖洗和超聲處理后烘干；

S12、將烘干后的載玻片浸泡于氨丙基三乙氧基硅烷的醇溶液中一段 時間，再經過去離子水沖洗后烘干。

7.如權利要求6所述的帶電微納米顆粒的超低濃度探測方法，其特 征在于,步驟S11中，將所述載玻片浸泡于濃硫酸與30％雙氧水體積比為 3：1的溶液中1到2個小時。

8.如權利要求6或7所述的帶電微納米顆粒的超低濃度探測方法， 其特征在于,步驟S12中，將所述載玻片浸泡于5-30％的氨丙基三乙氧基 硅烷的醇溶液中1小時。

9.如權利要求6至8任一項所述的帶電微納米顆粒的超低濃度探測 方法，其特征在于,步驟S2中，將金微納米棒溶液滴在經步驟S1處理的 載玻片上，靜置3-5分鐘。

10.如權利要求6至9任一項所述的帶電微納米顆粒的超低濃度探測 方法，其特征在于,步驟S4中，使用暗場顯微鏡找到在視野中顯現出紅色 的金微納米棒的富集區域的邊界，統計該富集區域內出現的全部紅色亮 點，基于所得的統計結果測定出溶液中修飾有DNA磷酸基團的金微納米棒 數目。