[發明專利]巖石孔隙結構檢測的光反射差裝置和方法

在審

• 申請號: 201610044022.7
• 申請日: 2016-01-22
• 公開（公告）號: CN105717018A
• 公開（公告）日: 2016-06-29
• 發明（設計）人: 趙昆;王金;詹洪磊;孫琦
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（北京）
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光反射差法檢測巖石孔隙結構的裝置，其特征在于，包括：入射光路、樣品臺、樣 品池、出射光路、信號放大裝置和數據采集和處理系統，所述入射光路包括激光器、起偏器、 光彈調制器和移相器，其中在激光器輸出光前方光路上順序設置所述起偏器、光彈調制器 和移相器；所述樣品池固定在樣品臺上；所述出射光路包括檢偏器和光電信號轉換器，經樣 品臺上的樣品反射后的出射光束前方順序設置所述檢偏器和光電信號轉換器，所述光電信 號轉換器通過信號放大裝置連接到所述數據采集和處理系統；所述入射光路中還包括設置 于移相器和樣品臺之間的聚焦裝置。

2.如權利要求1所述數據采集和處理系統，其特征在于，還包括：BNC適配器、數據采集 卡和數據處理裝置；其中所述數據處理裝置為電子計算機或微處理器，對數據采集卡發送 來的數據進行存儲、分析和處理。

3.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述樣品臺為高精密三維平移臺。

4.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述樣品池為標準玻璃載玻片。

5.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述光電信號轉換器為光電二極管，所述信 號放大裝置為鎖相放大器。

6.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述的巖石孔隙結構的光反射差法檢測裝置 進行巖石孔隙結構檢測時包括以下步驟：

(1)用砂紙或磨輪將巖心端面磨平，將巖心放在巖石孔隙結構的光反射差法檢測裝置 的樣品池上，磨平的端面向下；

(2)打開激光器，輸出的激光入射到起偏器，調節起偏器的透光軸方向，使其平行于基 片入射平面的P偏振方向，從起偏器出射的偏振光通過前方的光彈調制器，光彈調制器的頻 率設為50kHz；

(3)調節相移器，將基頻信號調零，調節樣品臺，使光路通過樣品，調節聚焦裝置，使得 光匯聚在樣品表面處；

(4)用光電二極管做探測器，用電子計算機或微處理器對檢測結果進行數據采集和處 理。