[發明專利]一種分析系統可靠性的方法

在審

• 申請號: 201610042959.0
• 申請日: 2016-01-22
• 公開（公告）號: CN105718738A
• 公開（公告）日: 2016-06-29
• 發明（設計）人: 崔鐵軍
• 申請（專利權）人: 遼寧工程技術大學
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種分析系統可靠性的方法，其特征在于，使用云模型構造特征函數，形成云化特征函數，進而改進SFT理論對于具有模糊性、隨機性和離散性的基礎數據處理問題，獲得云化元件故障概率分布和云化系統故障概率分布；其包括如下步驟：首先將根據某因素得到的元件可靠性數據帶入逆向云模型發生器，得到特征參數，然后帶入正向云模型發生器解析式，最終將該解析式被1減作為元件對于該因素的云化特征函數；本發明可用于確定系統可靠性分析中的元件故障概率分布和系統故障概率分布。

2.根據權利要求1所述的一種SFT理論，其特征在于，SFT對系統可靠性分析的基礎是得到可表示某因素影響元件可靠性的特征函數，這個特征函數在CSFT和DSFT中均存在；CSFT中的特征函數是通過較為嚴禁的實驗室試驗得到的，但即使是在科學的試驗方法下元件失效的發生還是帶有隨機性和模糊性的；DSFT中的特征函數是通過系統實際運行過程表現出的故障統計數據通過數據處理方法得到的；這些數據有較大的離散性，且影響因素的變化更為自由和復雜，所以這樣得到的特征函數較CSFT更為具有隨機性和模糊性；所以特征函數應能表示數據的隨機性和模糊性特征。

3.根據權利要求1所述的特征函數，其特征在于，元件的可靠性一般認為服從指數分布，或者是峰值具有穩定區的指數分布；理論上通過實驗得到的或通過實際運行得到的可靠性數據分布特征應是正態的分布在這個曲線周圍；越接近曲線數據密度越大，遠離密度小，那么所選代替特征函數的方法應能表示這個特征。

4.根據權利要求1所述的云化特征函數，其特征在于，云模型發生器生成的云滴正是圍繞著發生器解析式曲線正態分布的數據點，這與可靠性數據分布特征是相同的；云模型生成的云滴隸屬度為[0,1]，這與可靠性值域[0,1]相同；另外云模型的變形形式已有多種，可以滿足可靠性數據的分析要求；所以利用正向云模型發生器解析式代替特征函數是可行的，即形成云化特征函數。

5.根據權利要求1所述的云化特征函數的步驟，其特征在于，首先將根據某因素得到的元件可靠性數據帶入逆向云模型發生器，得到特征參數，然后帶入正向云模型發生器解析式，最終將該解析式被1減作為元件對于該因素的云化特征函數。

6.根據權利要求5所述的正向云模型發生器解析式，其特征在于，如式(1)所示，

（1）。

7.根據權利要求1所述的云化特征函數，其特征在于，考慮式(1)生成的正太云滴分布可表示元件對于某因素變化的可靠性變化，那么元件對于某因素的可靠性可以用表示，而元件對于該因素的特征函數可以使用=1-，即特征函數可表示為式(2)，

（2）。

8.根據權利要求1所述的云化特征函數，其特征在于，不同元件對不同因素影響帶來的可靠性變化并不一定都是正態的，這種情況可以使用半云與分段函數聯合表示，或梯形云模型，或非對稱云模型表示。

9.根據權利要求1所述的云化元件故障概率分布，其特征在于，在多因素影響下元件故障發生概率空間分布的云化，即云化元件故障概率分布表示為式(3)所示，

（3）。

10.根據權利要求4所述的云化系統故障概率分布，其特征在于，通過式(3)得到全部的云化元件故障概率分布，再通過系統結構分析得到元件組成系統的樹形結構，便可得到云化系統故障概率分布。