[發明專利]光學瞄準用標定檢測裝置

有效

• 申請號: 201610041640.6
• 申請日: 2016-01-21
• 公開（公告）號: CN105526950B
• 公開（公告）日: 2018-01-19
• 發明（設計）人: 惠梅;趙躍進;劉明;董立泉
• 申請（專利權）人: 北京理工大學
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 北京理工大學專利中心11120
• 代理人: 仇蕾安,李愛英

技術領域

本發明屬于光學瞄準技術領域，特別涉及對光學瞄準系統的標定檢測。

背景技術

在光學瞄準系統中，一般包含有由右儀器與左儀器組成的方位角測量傳遞裝置。其中，右儀器內部的自準直光管的朝向與其背面的檢測棱鏡法線方向之間，方位角相差約180度，且不在同一個高度上。左儀器中心的中心棱鏡與外部的基準棱鏡之間，在方位角上彼此相差約90度，且同樣不在同一個水平面內。為了保證方位角測量傳遞裝置在長期使用后的精度穩定性，需要對右儀器和左儀器內的兩個空間夾角進行經常性標定檢測。常規的測量方法是采用一臺準直經緯儀，分別對右儀器內部的自準直光管和檢測棱鏡法線方位進行測量，并測量同一個平面反射鏡，以實現右儀器內兩者之間夾角的測量。然后，采用該準直經緯儀，分別對左儀器的中心棱鏡和外部基準棱鏡法線方位進行測量，并測量同一個平面反射鏡，以實現左儀器內兩者之間夾角的測量。由于需要在與各個被測目標相對應的四個不同的高度和不同的位置進行四次經緯儀的架設固定和整平，并且需要分別對被測對象進行6次瞄準，該項工作是十分繁瑣的。由于準直經緯儀的測量屬于精密操作，進行右儀器、左儀器的標定檢測是一項十分費時費力的工作，效率很低，不適用于大批量生產中的標定檢測。

發明內容

本發明的目的是：提供一種光學瞄準用標定檢測裝置及方法，用于對方位角測量傳遞裝置中的右儀器、左儀器內部的空間夾角進行快速標定檢測，以縮短測量時間，降低測試人員的工作強度，提高工作效率。

本發明的技術方案是：一種光學瞄準用標定檢測裝置，它包括：光學平臺，五個支撐座，四個準直經緯儀，棱鏡裝置，小反射鏡，固定座以及安裝調整座；

五個支撐座固定在光學平臺上且高度可調，其中，第一支撐座上架設有第一準直經緯儀，第二支撐座上架設有第二準直經緯儀，第三支撐座上架設有第三準直經緯儀，第四支撐座上架設有第四準直經緯儀，第五支撐座上架設有棱鏡裝置和小反射鏡；固定座固定在光學平臺上，用于架設被測左儀器；

安裝調整座固定在光學平臺上，且位于第二支撐座和第五支撐座之間的位置，其上設有用于調整被測右儀器位置的導軌和絲杠；安裝調整座俯仰可調；

第一準直經緯儀的光軸方向可調，或正對被測左儀器的中心棱鏡法線方向，或與第二準直經緯儀的光軸對瞄；

第二準直經緯儀的光軸方向可調，或正對被測左儀器側面基準棱鏡法線方向，或正對被測右儀器背部的檢測棱鏡法線方向，或第一準直經緯儀的光軸對瞄；

第三準直經緯儀的光軸正對被測右儀器側面反光鏡的法線方向；

第四準直經緯儀的光軸正對在小反射鏡的法線方向；

小反射鏡安裝在棱鏡裝置的側面，棱鏡裝置的方位可調，通過調整棱鏡裝置的方位角，得到由第四準直經緯儀測得的棱鏡裝置方位角讀數和被測右儀器內部自準直光管測得的失準角讀數。

一種光學瞄準用標定檢測方法，它包括以下步驟：

a.通過對安裝在光學平臺上的五個支撐座的高度進行調整，使得四個準直經緯儀的光軸中心分別與被測左儀器的中心棱鏡、被測左儀器的基準棱鏡、被測右儀器側面反射鏡、棱鏡裝置的小反射鏡的中心等高；

b.利用第一準直經緯儀對被測左儀器內部的中心棱鏡進行準直測量，得到角度α₁，第二準直經緯儀對被測左儀器側面的基準棱鏡進行準直測量得到角度α₂；然后，使第一準直經緯儀與第二準直經緯儀進行對瞄，第一準直經緯儀得到角度α₃，第二準直經緯儀得到角度α₄，利用公式θ₁＝180°-(α₃-α₁)-(α₂-α₄)，即可得到被測左儀器基準棱鏡法線與中心棱鏡法線之間的夾角θ₁，從而完成對被測左儀器的標定儀器常數的檢測；