[發(fā)明專利]檢測液晶顯示面板良率的方法

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• 申請日: 2016-01-21
• 公開（公告）號: CN105445977A
• 公開（公告）日: 2016-03-30
• 發(fā)明（設計）人: 楊少甫
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳市德力知識產(chǎn)權(quán)代理事務所 44265
• 代理人: 林才桂

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測液晶顯示面板良率的方法。

背景技術(shù)

液晶顯示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)具有機身薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點，得到了廣泛的應用，如：液晶電視、移動電話、個人數(shù)字助理(PDA)、數(shù)字相機、計算機屏幕或筆記本電腦屏幕等，在平板顯示領(lǐng)域中占主導地位。

現(xiàn)有市場上的液晶顯示器大部分為背光型液晶顯示器，其包括液晶顯示面板及背光模組(backlightmodule)。液晶顯示面板的工作原理是在薄膜晶體管陣列基板(ThinFilmTransistorArraySubstrate，TFTArraySubstrate)與彩色濾光片基板(ColorFilter，CF)之間灌入液晶分子，并在兩片基板上施加驅(qū)動電壓來控制液晶分子的旋轉(zhuǎn)方向，以將背光模組的光線折射出來產(chǎn)生畫面。

一液晶顯示面板內(nèi)包括多個呈陣列式排布的像素，每個像素電性連接一個薄膜晶體管(ThinFilmTransistor，TFT)，該TFT的柵極(Gate)連接至水平方向的掃描線，漏極(Drain)連接至豎直方向的數(shù)據(jù)線，源極(Source)則連接至像素電極。在水平掃描線上施加足夠的電壓，會使得電性連接至該條掃描線上的所有TFT打開，從而數(shù)據(jù)線上的信號電壓能夠?qū)懭胂袼兀刂埔壕У耐腹舛龋瑢崿F(xiàn)顯示效果。

在液晶顯示面板的生產(chǎn)過程中，需要對其良率進行檢測，及時發(fā)現(xiàn)問題并進行修復。隨著智能型手機對液晶顯示面板分辨率的要求越來越高，以低溫多晶硅(LowTemperaturePoly-Silicon，LTPS)為半導體材料來制作TFT陣列基板的技術(shù)成為主流，對液晶顯示面板的良率檢測要求也隨之增高。目前，業(yè)界公知的檢測液晶顯示面板良率的方法為逐一驅(qū)動獨立的液晶顯示面板，然而該方法需要先將對應于多個液晶顯示面板的大尺寸的TFT陣列基板與彩色濾光片基板進行組立，形成包括多個液晶顯示面板的液晶顯示母板，再經(jīng)過一次切割、薄化、二次切割，以及偏貼工藝后才能得到獨立的具有特定尺寸的液晶顯示面板，工序較多、耗時較長、檢測效率較低，無法快速反應液晶顯示面板的品質(zhì)及良率狀況。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于一種檢測液晶顯示面板良率的方法，能夠減少工序，節(jié)省時間，快速反應液晶顯示面板的品質(zhì)及良率狀況，提升檢測效率。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種檢測液晶顯示面板良率的方法，包括如下步驟：

步驟1、提供一液晶顯示母板，所述液晶顯示母板內(nèi)排布有多個液晶顯示面板，每一液晶顯示面板內(nèi)均包括多個不同功能的信號線路；

步驟2、將每一液晶顯示面板內(nèi)功能相同的信號線路均連接至一走線，該走線延伸至液晶顯示母板的外圍，形成一對應于所有液晶顯示面板的母板集結(jié)走線；

步驟3、使用各個母板集結(jié)走線驅(qū)動液晶顯示母板，對所有液晶顯示面板同時進行檢測。

所述液晶顯示母板由對應于所有液晶顯示面板的TFT陣列基板與彩色濾光片基板組立構(gòu)成。

所述TFT陣列基板與彩色濾光片基板之間夾設有液晶層。

所述多個不同功能的信號線路制作于所述TFT陣列基板上。

所述多個不同功能的信號線路包括用于輸入數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)線、與用于輸入掃描信號的掃描線。

所述步驟2具體包括：將每一液晶顯示面板內(nèi)功能相同的信號線路集結(jié)在一起形成一液晶顯示面板集結(jié)走線，各個功能相同的液晶顯示面板集結(jié)走線經(jīng)由同一走線延伸至液晶顯示母板外圍形成對應的母板集結(jié)走線。

所述多個液晶顯示面板陣列排布于液晶顯示母板中。

相鄰的兩液晶顯示面板之間相互間隔。

本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明提供的一種檢測液晶顯示面板良率的方法，將每一液晶顯示面板內(nèi)功能相同的信號線路均連接至一走線，該走線延伸至液晶顯示母板的外圍，形成一對應于所有液晶顯示面板的母板集結(jié)走線，使用各個母板集結(jié)走線驅(qū)動液晶顯示母板，對所有液晶顯示面板同時進行檢測，相比于現(xiàn)有技術(shù)，能夠減少檢測前的一次切割、薄化、二次切割，以及偏貼工序，從而節(jié)省時間，快速反應液晶顯示面板的品質(zhì)及良率狀況，提升檢測效率。

附圖說明

為了能更進一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。

附圖中，

圖1為本發(fā)明的檢測液晶顯示面板良率的方法的流程圖；

圖2為本發(fā)明的檢測液晶顯示面板良率的方法中液晶顯示母板的示意圖。